СОДЕРЖАНИЕ
Номер 1, 2017
Состояние дел и перспективы развития многослойной рентгеновской
оптики в ИФМ РАН
А. Д. Ахсахалян, Е. Б. Клюенков, А. Я. Лопатин, В. И. Лучин, А. Н. Нечай,
А. Е. Пестов, В. Н. Полковников, Н. Н. Салащенко, М. В. Свечников,
М. Н. Торопов, Н. Н. Цыбин, Н. И. Чхало, А. В. Щербаков
Структура аморфной фазы пиролизатов дифталоцианина лантана
по данным рассеяния рентгеновских лучей
В. Т. Лебедев, А. Е. Совестнов, В. И. Тихонов, Ю. П. Черненков
Спектры рентгеновского излучения при взаимодействии пучков ионов
с энергией меньше 25 кэВ с дейтерированными кристаллическими структурами
А. В. Багуля, О. Д. Далькаров, М. А. Негодаев, А. С. Русецкий,
В. И. Цехош, А. А. Болотоков
Изучение методом резерфордовского обратного рассеяния распределения
элементов в пленках, напыленных на установке типа “плазменный фокус”
В. Н. Колокольцев, В. С. Куликаускас, Г. Г. Бондаренко, А. А. Ерискин,
В. Я. Никулин, П. В. Силин
Исследование закрытой пористости функциональных керамических
материалов методом спин-эхо малоуглового рассеяния нейтронов
К. А. Павлов, Е. В. Величко, В. Н. Забенкин, W. H. Kraan, C. P. Duif,
W. G. Bouwman, З. А. Михайловская, Е. С. Буянова, С. В. Григорьев
Методы получения и свойства биоактивных покрытий пористых материалов
А. Г. Широкова, Е. А. Богданова, В. М. Скачков, Л. А. Пасечник,
С. В. Борисов, Н. А. Сабирзянов
Антиферромагнитные включения в органическом полупроводнике
(DOEO)4[HgBr4] ⋅ TCE
О. В. Коплак, А. И. Дмитриев, Р. Б. Моргунов
Эффективная концентрация электронов в металлах, измеренная методом
позитронной аннигиляционной спектроскопии
В. И. Графутин, Е. П. Прокопьев, Н. О. Хмелевский
Исследование влияния механической полировки на состояние поверхности
алмаза методом дифракции обратно рассеянных электронов
Е. В. Коростылев, В. С. Бормашов, С. А. Тарелкин, М. А. Доронин
Исследование особенностей гетероэпитаксии BaF2 на слоях СaF2/Si(100),
полученных в высокотемпературном режиме роста
Н. И. Филимонова, В. А. Илюшин, А. А. Величко
Энергодисперсионные зависимости рентгеновской фотоэмиссии
электронов имплантированного кремния
И. А. Зельцер, Е. Н. Моос, О. В. Савушкин
Модификация свойств ферритовых материалов с гексагональной структурой
при обработке в плазме коронного разряда
М. Н. Шипко, В. Г. Костишин, М. А. Степович, В. В. Коровушкин
Сравнение основных параметров ионно-фотонной эмиссии атомов
и однозарядных ионов титана
И. А. Афанасьева, В. В. Бобков, В. В. Грицына, И. И. Оксенюк, Д. И. Шевченко
94
89
85
79
74
69
62
55
47
41
36
25
5
Стр.3
Влияние имплантации ионов Co+ на состав и свойства
свободных нанопленочных структур Si–Cu
З. А. Исаханов, Т. Кодиров, А. С. Халматов, М. К. Рузибаева,
З. Э. Мухтаров, Б. Е. Умирзаков
Энергия отдачи при движении иона в кристалле
В. В. Евстифеев, Н. В. Костина, Т. В. Карабаева
Картирование текста древнего пергамента методом
рентгенофлуоресцентного элементного анализа на синхротронном источнике
П. В. Гурьева, А. А. Демкив, Е. А. Созонтов
100
104
110
Сдано в набор 22.08.2016 г. Подписано к печати 14.11.2016 г. Дата выхода в свет 25.01.2017 г. Формат 60 Ч 881/8
Цифровая печать
Усл. печ. л. 14.0
Тираж 100 экз.
Усл. кр.-отт. 1.5 тыс.
Зак. 1006
Уч.-изд. л. 14.0
Цена свободная
Учредители: Российская академия наук, Институт физики твердого тела РАН
Издатель: Российская академия наук. Издательство “Наука”, 117997 Москва, Профсоюзная ул., 90
Оригинал-макет подготовлен МАИК “Наука/Интерпериодика”
Отпечатано в типографии “Наука”, 121099 Москва, Шубинский пер., 6
Бум. л. 7.0
Стр.4
Contents
No. 1, 2017
A simultaneous English language translation of this journal is available from Pleiades Publishing, Ltd.
Distributed worldwide by Springer. Journal of Surface Investigation. X-ray, Synchrotron and Neutron Techhiques ISSN 1027-4510.
Current Status and Prospects for Development of Multilayer X-Ray Optics
in IPM RAS
A. D. Akhsakhalyan, E. B. Kluenkov, A. Ya. Lopatin, V. I. Luchin, A. N. Nechay,
A. E. Pestov, V. N. Polkovnikov, N. N. Salashchenko, M. V. Svechnikov,
M. N. Toropov, N. N. Tsybin, N. I. Chkhalo, A. V. Shcherbakov
Structure of Amorphous Phase of Pyrolisates of Lanthanum Diphthalocyanine
Based on X-Ray Data
V. T. Lebedev, A. E. Sovestnov, V. I. Tikhonov, Yu. P. Chernenkov
X-Ray Spectra during the Interaction of Ion Beams with Energies Less
Than 25 keV with Deuterated Crystal Structures
A. V. Bagulya, O. D. Dalkarov, M. A. Negodaev, A. S. Rusetskii,
V. I. Tsehosh, A. A. Bolotokov
Determination of Element Distribution in Films Deposited Using the Plasma
Focus Facility by Rutherford Backscattering
V. N. Kolokoltsev, V. S. Kulikauskas, G. G. Bondarenko, A. A. Eriskin,
V. Ya. Nikulin, P. V. Silin
Investigation of Closed Porosity in Functional Ceramic Materials by Spin-Echo
Small-Angle Neutron Scattering
K. A. Pavlov, E. V. Velichko, V. N. Zabenkin, W. H. Kraan, C. P. Duif,
W. G. Bouwman, Z. A. Mikhailovskaya, E. S. Buyanova, S. V. Grigoriev
Bioactive Coating of Porous Materials: Manufacture and Properties
A. G. Shirokova, E. A. Bogdanova, V. M. Skachkov, L. A. Pasechnik,
S. V. Borisov, N. A. Sabirzyanov
Antiferromagnetic Inclusions in the Organic Semiconductor (DOEO)4[HgBr4] ⋅ TCE
O. V. Koplak, A. I. Dmitriev, R. B. Morgunov
Effective Concentration of Electrons in Metals Measured by Positron
Annihilation Spectroscopy
V. I. Grafutin, E. P. Prokopiev, N. O. Khmelevsky
EBSD Investigation of the Effect of Mechanical Polishing on the Diamond Surface
E. V. Korostylev, V. S. Bormashov, S. A Tarelkin, M. A. Doronin
Study of Features of the BaF2 Heteroepitaxy on CaF2/Si (100) Layers, Obtained
in a High Temperature Growth Mode
N. I. Filimonova, V. A. Ilyushin, A. A. Velichko
Energy Dispersion Dependences X-Ray Photoemission Electrons of Implanted Silicon
I. A. Zeltser, E. N. Moos, O. V. Savushkin
Modification of the Properties of Ferrite Materials with a Hexagonal Structure
by Processing in Corona Discharge Plasma
M. N. Shipko, V. G. Kostishin, M. A. Stepovich, V. V. Korovushkin
Comparison of Main Parameters of Ion-Photon Emission of Titanium Atoms
and Singly Charged Ions
I. A. Afanas’eva, V. V. Bobkov, V. V. Gritsyna, I. I. Oksenyuk, D. I. Shevchenko
Influence of Co+ Ions Implantation on Composition and Properties,
of Free Si–Cu Nanofilm Structures
Z. A. Isakhanov, T. Kodirov, A. S. Khalmatov, M. K. Ruzibaeva,
Z. E. Mukhtarov, B. E. Umirzakov
100
94
89
79
85
69
74
55
62
47
41
36
25
5
Стр.5
Recoil Energy during Ion Movement in Crystal
V. V. Evstifeev, N. V. Kostina, T. V. Karabaeva
Mapping of the Text of Ancient Parchment by X-Ray Fluorescence Analysis
Using Synchrotron Source
P. V. Guryeva, A. A. Demkiv, E. A. Sozontov
110
104
Стр.6