Национальный цифровой ресурс Руконт - межотраслевая электронная библиотека (ЭБС) на базе технологии Контекстум (всего произведений: 634620)
Контекстум
.
Микроэлектроника (РАН)

Микроэлектроника (РАН) №1 2017 (916,50 руб.)

0   0
Страниц82
ID557447
АннотацияОснован в 1972 г. Публикуются статьи, посвященные технологическим, физическим и схемотехническим аспектам микро- и наноэлектроники. Особое внимание уделяется новым тенденциям в литографии, травлению, легированию, осаждению и планаризации на субмикронном и нанометровом уровнях, плазменным технологиям, молекулярно-пучковой эпитаксии и сухому травлению, а также методам исследования и контроля поверхностей и многослойных структур. Обсуждаются вопросы приборно-технологического моделирования и диагностики технологических процессов в реальном времени. Публикуются статьи о полупроводниковых приборах на базе новых физических явлений, таких как квантовые размерные эффекты и сверхпроводимость.
Микроэлектроника (РАН) .— Москва : НАУКА .— 2017 .— №1 .— 82 с. — URL: https://rucont.ru/efd/557447 (дата обращения: 19.04.2024)

Также для выпуска доступны отдельные статьи:
ЛЕГИРОВАНИЕ УГЛЕРОДНЫХ НАНОТРУБОК / Булярский (200,00 руб.)
МОДЕЛИРОВАНИЕ ЭМИССИОННЫХ ПРОЦЕССОВ УГЛЕРОДНЫХ НАНОТРУБОК / Павлов (200,00 руб.)
ПРЯМОЕ ПРЕОБРАЗОВАНИЕ ЭНЕРГИИ β-РАСПАДА В ЭЛЕКТРИЧЕСКУЮ / Лакалин (200,00 руб.)
ИССЛЕДОВАНИЕ ТЕКСТУРИРОВАННЫХ ПЛЕНОК НИТРИДА АЛЮМИНИЯ, ПОЛУЧЕННЫХ МЕТОДОМ ГАЗОФАЗНОГО ХИМИЧЕСКОГО ОСАЖДЕНИЯ / Рыжова (200,00 руб.)
ДВУХРАКУРСНАЯ ТОМОГРАФИЯ НИЗКОТЕМПЕРАТУРНОЙ ПЛАЗМЫ / Руденко (200,00 руб.)
ИССЛЕДОВАНИЕ ПРОЦЕССОВ ПЛАЗМОХИМИЧЕСКОГО ТРАВЛЕНИЯ ФОТОРЕЗИСТА С ПОМОЩЬЮ in situ ОПТИЧЕСКОГО МОНИТОРИНГА / Зеленцов (200,00 руб.)
СРАВНИТЕЛЬНЫЙ АНАЛИЗ КМОП-СХЕМ ШИФРАТОРОВ ТЕРМОМЕТРИЧЕСКОГО КОДА В ПРЯМОЙ ДВОИЧНЫЙ КОД ДЛЯ ПАРАЛЛЕЛЬНЫХ АЦП В ИНТЕГРАЛЬНОМ ИСПОЛНЕНИИ / Морозов (200,00 руб.)
ИЗМЕРЕНИЕ РАЗМЕРОВ ЭЛЕМЕНТОВ МИКРОСХЕМ С ШИРИНАМИ МЕНЬШЕ 100 нм МЕТОДОМ ДЕФОКУСИРОВКИ ЗОНДА РЭМ / Новиков (200,00 руб.)
РАЗРАБОТКА МАРШРУТА ПРОЕКТИРОВАНИЯ МНОГОПОРТОВЫХ РЕГИСТРОВЫХ ФАЙЛОВ, ВКЛЮЧАЮЩЕГО БИБЛИОТЕКУ ЭЛЕМЕНТОВ И КОМПИЛЯТОРА НА ЕЕ ОСНОВЕ ДЛЯ ТЕХНОЛОГИИ КНИ 0.25 МКМ / Тарасов (200,00 руб.)

Предпросмотр (выдержки из произведения)

Экономика - политика - культура Теоретическая и математическая физика Теоретические основы химической технологии* Теория вероятностей и ее применение Теплофизика высоких температур* Труды Математического института имени В.А. Стеклова* Успехи математических наук Успехи современной биологии Успехи физиологических наук Физика Земли* Физика и техника полупроводников* Физика и химия стекла* Физика металлов и металловедение* Физика плазмы* Физика твердого тела* Физикохимия поверхности и защита материалов* Физиология растений* Физиология человека* Функциональный анализ и его применение Химическая физика* Химия высоких энергий* Химия твердого топлива* Цитология* Человек Экология* Экономика и математические методы Электрохимия* Энергия, экономика, техника, экология Этнографическое обозрение Энтомологическое обозрение* Ядерная физика* * Материалы журнала издаются группой Pleiades Publishing на английском языке http://www.naukaran.com 45 ЛЕТ ЖУРНАЛУ “НАУК А” МИКРОЭЛЕКТРОНИКА Том 46, Номер 1 Январь - Февраль 2017 ISSN 0544-1269 ISSN 0544-1269 Микроэлектроника, 2017, том 46, № 1 СОДЕРЖАНИЕ Том 46, номер 1, 2017 ТЕХНОЛОГИИ МИКРО- И НАНОЭЛЕКТРОНИКИ Легирование углеродных нанотрубок А. Н. Сауров, С. В. Булярский Моделирование эмиссионных процессов углеродных нанотрубок А. В. Лакалин, А. А. Павлов, А. А. Шаманаев Прямое преобразование энергии β-распада в электрическую С. В. Булярский, А. В. Лакалин, И. Е. Абанин, В. В. Амеличев, В. Д. Рисованый, В. В. Светухин, Б. В. Иванов, И. Г. Лисина Исследование текстурированных пленок нитрида алюминия, полученных методом газофазного химического осаждения А. Н. Редькин, М. В. Рыжова, Е. Е. Якимов, Д. В. Рощупкин Двухракурсная томография низкотемпературной плазмы А. В. Фадеев, К. В. Руденко ТЕХНОЛОГИЧЕСКИЕ ПРОЦЕССЫ Исследование процессов плазмохимического травления фоторезиста с помощью in situ оптического мониторинга П. В. Волков, С. В. Зеленцов, С. А. Королёв, А. Ю. Лукьянов, А. И. Охапкин, А. Н. Тропанова СХЕМОТЕХНИКА Сравнительный <...>
Микроэлектроника_№1_2017.pdf
СОДЕРЖАНИЕ Том 46, номер 1, 2017 ТЕХНОЛОГИИ МИКРО- И НАНОЭЛЕКТРОНИКИ Легирование углеродных нанотрубок А. Н. Сауров, С. В. Булярский Моделирование эмиссионных процессов углеродных нанотрубок А. В. Лакалин, А. А. Павлов, А. А. Шаманаев Прямое преобразование энергии β-распада в электрическую С. В. Булярский, А. В. Лакалин, И. Е. Абанин, В. В. Амеличев, В. Д. Рисованый, В. В. Светухин, Б. В. Иванов, И. Г. Лисина Исследование текстурированных пленок нитрида алюминия, полученных методом газофазного химического осаждения А. Н. Редькин, М. В. Рыжова, Е. Е. Якимов, Д. В. Рощупкин Двухракурсная томография низкотемпературной плазмы А. В. Фадеев, К. В. Руденко ТЕХНОЛОГИЧЕСКИЕ ПРОЦЕССЫ Исследование процессов плазмохимического травления фоторезиста с помощью in situ оптического мониторинга П. В. Волков, С. В. Зеленцов, С. А. Королёв, А. Ю. Лукьянов, А. И. Охапкин, А. Н. Тропанова СХЕМОТЕХНИКА Сравнительный анализ КМОП-схем шифраторов термометрического кода в прямой двоичный код для параллельных АЦП в интегральном исполнении М. М. Пилипко, Д. В. Морозов, Д. О. Буданов Измерение размеров элементов микросхем с ширинами меньше 100 нм методом дефокусировки зонда РЭМ Ю. А. Новиков Разработка маршрута проектирования многопортовых регистровых файлов, включающего библиотеку элементов и компилятора на ее основе для технологии КНИ 0.25 мкм П. Г. Кириченко, И. В Тарасов 72 61 50 44 30 34 21 3 14
Стр.3