Г. и Н.Г. Столетовых); e-mail: smosin@vlsu.ru ТЕСТИРОВАНИЕ АНАЛОГОВЫХ СХЕМ С ИСПОЛЬЗОВАНИЕМ НЕЙРОСЕТЕВОГО СИГНАТУРНОГО АНАЛИЗАТОРА* Предложен метод функционального тестирования аналоговых интегральных микросхем на основе нейросетевого сигнатурного анализатора (НСА). <...> Представлена и обоснована структура НСА, позволяющая обнаруживать катастрофические и параметрические неисправности с учетом допусков на параметры внутренних компонентов аналоговой схемы. <...> Описан способ выделения существенных характеристик из временных откликов тестируемой схемы с использованием вейвлет-преобразования. <...> Приведена реализация метода в рамках подхода тестопригодного проектирования. <...> Представлены результаты экспериментальных исследований, подтверждающие высокую эффективность предложенного решения для тестирования аналоговых и смешанных интегральных микросхем. <...> Ключевые слова: тестирование; сигнатурный анализатор; аналоговые интегральные микросхемы; нейронная сеть; вейвлет-преобразование; тестопригодное проектирование. <...> Введение ∼ Тестирование занимает существенное место в процессе проектирования и реализации электронных устройств. <...> На мероприятия по тестированию интегральных микросхем (ИМС) приходится 40…60 % от общего времени и 40…70 % общих затрат, требуемых на разработку. <...> Следует отметить, что сложность и стоимость тестирования смешанных (аналого-цифровых) ИМС определяются в основном затратами на тестирование аналоговой подсхемы [1]. <...> Неисправности аналоговых схем подразделяют на катастрофические и параметрические. <...> Множество катастрофических неисправностей аналоговой схемы является конечным, а параметрических – бесконечным. <...> Параметры внутренних компонентов всегда принимают значения с учетом допусков, поэтому исправная аналоговая схема характеризуется множествами состояний и значений выходных реакций, соответствующих этим состояниям. <...> С учетом изложенных особенностей для тестирования аналоговых <...>