![](/i/search_round_green.gif)
Свободный доступ
![](/i/search_round_white.gif)
Ограниченный доступ
Изд-во МГТУ им. Н.Э. Баумана: М.
Рассмотрены основные вопросы получения генерации в волоконных лазерах, методы накачки. Представлены активные элементы для активации волокна и схемы лазерных переходов. Описаны особенности резонаторов волоконных лазеров на брэгговских решетках и способы их получения. Приведены энергетические и пространственно-временные характеристики волоконных лазеров, работающих на редкоземельных элементах. Определены перспективы развития волоконных лазеров.
Предпросмотр: Волоконные технологические лазеры.pdf (0,1 Мб)
Автор: Барышников Н. В.
Изд-во МГТУ им. Н.Э. Баумана: М.
Изложены принципы построения млогабаритных лазерных изображающих систем, приведены методика расчета передающего канала на основе матричного полупроводникового источника излучения и оптического интегратора, методика светоэнергетического расчета системы, предназначенной для дистанционного обнаружения световозвращателей.
Предпросмотр: Проектирование лазерных изображающих систем.pdf (0,3 Мб)
Автор: Одиноков С. Б.
Изд-во МГТУ им. Н.Э. Баумана: М.
Рассмотрены особенности проектирования автоматических систем идентификации голограмм, методика кодирования оптических сигналов с помощью алгоритмов векторно-матричного умножения. Представлен анализ преобразования оптического сигнала в системе контроля подлинности защитной голограммы от получения защитного элемента до восстановления и декодирования скрытого изображения на матричном фотоприемнике в устройстве контроля подлинности.
Предпросмотр: Оптико-электронные приборы контроля подлинности защитных голограмм.pdf (0,1 Мб)
Автор: Бурый Е. В.
Изд-во МГТУ им. Н.Э. Баумана: М.
Изложены методы расчета электрических схем, содержащих аналоговые электронные элементы (диоды, транзисторы, операционные усилители). Приведены примеры решения задач графическим, графоаналитическим и аналитическим методами.
Предпросмотр: Аналоговые электронные элементы.pdf (0,1 Мб)
Автор: Баринов И. Н.
Изд-во МГТУ им. Н.Э. Баумана: М.
Рассмотрены особенности расчета электротехнических устройств с корректируемыми рабочими характеристиками. Особое внимание уделено современным методам построения амплитудных и фазовых корректоров, основанных на использовании невзаимных активных элементов. Изучены особенности построения и сопряжения элементов корректирующих устройств с использованием элементов интегральной техники.
Предпросмотр: Анализ и расчет четырехполюсников с корректируемыми передаточными характеристиками.pdf (0,1 Мб)
Изд-во МГТУ им. Н.Э. Баумана: М.
Приведены варианты домашних заданий по проектированию комбинационного и последовательностного устройств цифровой техники на интегральных схемах малой и средней степени интеграции, а также по проектированию микропроцессорной системы, отвечающей функциональным потребностям автоматов управления процессами. Представлены правила проектирования, необходимые справочные материалы и примеры выполнения заданий.
Предпросмотр: Проектирование узлов цифровой электронной техники.pdf (0,2 Мб)
Автор: Семенов С. Е.
Изд-во МГТУ им. Н.Э. Баумана: М.
Представлена структурная схема современного электрогидравлического следящего привода (ЭГСП), включающего электрогидравлический силовой агрегат поступательного действия и электронное устройство управления. Обоснована и изложена методика определения основных параметров электронного устройства, обеспечивающих необходимые значения коэффициента передачи и добротности по скорости следящего привода. Дано описание лабораторной установки, включающей ЭГСП, на которой студенты должны изучать принципиальную схему электронной части привода и после расчета ее параметров осуществлять сборку и наладку схемы.
Предпросмотр: «Аналоговое устройство управления ЭГСП на основе ОУ.pdf (0,3 Мб)
Автор: Малов И. Е.
Изд-во МГТУ им. Н.Э. Баумана: М.
Дано общее представление о процессах лазерной обработки полупроводников с целью рекристаллизации и отжига, описаны лазерные технологии модифицирования и изменения химического состава поверхностных слоев, напыления и осаждения тонких пленок, процессы лазерного легирования поверхности полупроводников. Также в пособии рассмотрены физико-химические и технологические процессы лазерной обработки пленок и деталей микроэлектроники, дана классификация методов лазерной обработки, рассмотрены методы подгонки параметров элементов микроэлектроники, размерной обработки и маркировки тонких пленок.
Предпросмотр: Лазерные технологии в электронном машиностроении.pdf (0,2 Мб)
Автор: Масленникова С. И.
Изд-во МГТУ им. Н.Э. Баумана: М.
В учебном пособии кратко изложены методы анализа электрических цепей при синусоидальных и несинусоидальных периодических воздействиях. На конкретных примерах показаны особенности применения методов анализа и порядок расчета. Приведен анализ цепей, содержащих магнитосвязанные индуктивные элементы, а также рассмотрены резонансные явления в электрических цепях.
Предпросмотр: Расчет электрических цепей частотным методом.pdf (0,1 Мб)
Автор: Малышев К. В.
Изд-во МГТУ им. Н.Э. Баумана: М.
В данные методические указания включены лабораторные работы, посвященные экспериментальным исследованиям с помощью сканирующего туннельного микроскопа (СТМ) характеристик наноматериалов, перспективных для радиоэлектронных средств. Во второй части изучается измерение электрических характеристик наноматериалов с помощью СТМ.
Предпросмотр: Наноматериалы для радиоэлектронных средств. – Ч. 2.pdf (0,1 Мб)
Автор: Малышев К. В.
Изд-во МГТУ им. Н.Э. Баумана: М.
В данные методические указания включены лабораторные работы, посвященные экспериментальным исследованиям с помощью сканирующего туннельного микроскопа (СТМ) характеристик наноматериалов, перспективных для радиоэлектронных средств. В первой части изучается подготовка СТМ к модификации (диагностике) наноматериалов с помощью СТМ.
Предпросмотр: Наноматериалы для радиоэлектронных средств.pdf (0,1 Мб)
Автор: Голубенко Ю. В.
Изд-во МГТУ им. Н.Э. Баумана: М.
Описаны основные кристаллические материалы, имеющие прозрачность в ИК-области, оценена их лучевая прочность, пороги разрушения и лучевая стойкость. Рассмотрены методы их определения. Даны рекомендации по применению материалов для проходной оптики в зависимости от мощности излучения
СО2-лазеров.
Предпросмотр: Материалы для проходных оптических элементов СО2-лазеров.pdf (0,2 Мб)
Автор: Смирнов А. В.
Изд-во МГТУ им. Н.Э. Баумана: М.
В пособии подробно рассмотрены наиболее часто встречающиеся случаи расчета и анализа нелинейных электрических цепей и приведены примеры решения типовых задач. Для студентов приборостроительных специальностей, изучающих
вторую часть курса «Теоретические основы электротехники».
Предпросмотр: Расчет нелинейных электрических цепей.pdf (0,2 Мб)
Автор: Косолапов А. С.
Изд-во МГТУ им. Н.Э. Баумана: М.
Приведены необходимые теоретические сведения об оптимальных обнаружителях и различителях сигналов корреляционного типа, описана лабораторная установка для экспериментального исследования корреляционного приемника.
Предпросмотр: Исследование корреляционного приемника.pdf (0,2 Мб)
Автор: Гладилина Г. А.
Изд-во МГТУ им. Н.Э. Баумана: М.
Изложены краткие теоретические положения. Рассмотрены методы
анализа магнитных цепей с постоянными магнитными потоками. Приведены примеры применения методов анализа и порядок расчета.
Предпросмотр: Расчет нелинейных магнитных цепей.pdf (0,3 Мб)
Автор: Бутенко Д. В.
Изд-во МГТУ им. Н.Э. Баумана: М.
Дан краткий теоретический анализ усилительных каскадов на операционных усилителях (ОУ) с определением их основных параметров и характеристик. Приведено описание цикла лабораторных работ, рассмотрена методика измерения характеристик и параметров каскадов на ОУ.
Предпросмотр: Усилительные каскады на операционных усилителях.pdf (0,3 Мб)
Изд-во МГТУ им. Н.Э. Баумана: М.
Представлены общие сведения о телеметрической системе малых космических аппаратов, описан порядок работы с программным приложением для анализа полного телеметрического пакета с космического аппарата отечественного производства. Приведены методы восстановления потерянных данных, раскрыта специфика алгоритма восстановления. Описан алгоритм работы с данными резервной телеметрической системы и особенности получения и обработки этих
данных.
Предпросмотр: Анализ телеметрической информации с космического аппарата «Юбилейный».pdf (0,1 Мб)
Автор: Зимин В. Н.
Изд-во МГТУ им. Н.Э. Баумана: М.
Подробно рассмотрены особенности моделирования раскрытия крупногабаритных солнечных батарей (СБ) космических аппаратов и экспериментальной отработки их раскрытия. Приведены однофазные и многофазные схемы раскрытия СБ и модель установки элементов конструкции СБ на упоры и фиксаторы. Дан пример расчета трех кинематических схем раскрытия СБ.
Предпросмотр: Механика трансформируемых крупногабаритных космических конструкций.pdf (0,1 Мб)
Автор: Тупов В. В.
Изд-во МГТУ им. Н.Э. Баумана: М.
Исследовано функционирование защитного зануления электропотребителей, питающихся от трехфазных пятипроводных сетей с заземленной нейтралью напряжением до 1 кВ. Рассмотрено назначение РЕ-проводника сети, заземления нейтрали источника тока, повторного заземления РЕ-проводника и их влияние на условия безопасности при косвенном прикосновении к зануленным частям электрооборудования, случайно оказавшимся под напряжением в результате замыкания на них фазы сети.
Предпросмотр: Исследование защитного зануления.pdf (0,3 Мб)
Изд-во МГТУ им. Н.Э. Баумана: М.
Проанализированы вопросы обеспечения надежности радиоэлектронных средств нового поколения - на базе приборов, функционирующих на квантоворазмерных эффектах в наноразмерных слоях составляющих их полупроводниковых гетероструктур. В качестве примера рассмотрено обеспечение надежности смесителя радиосигналов СВЧ-диапазона на базе резонансно-туннельных диодов.
Предпросмотр: Нанотехнология и микромеханика Ч.5.pdf (0,5 Мб)
Автор: Карпухин С. Д.
Изд-во МГТУ им. Н.Э. Баумана: М.
Изложены физические основы атомно-силовой микроскопии. Рассмотрены режимы работы атомно-силового микроскопа. Дано описание отдельных узлов атомно-силового микроскопа. Проанализированы технические возможности, особенности конструкции и требования к образцам зондовых микроскопов СММ-2000 и «НаноСкан».
Предпросмотр: Атомно-силовая микроскопия.pdf (0,1 Мб)
Автор: Нарайкин О. С.
Изд-во МГТУ им. Н.Э. Баумана: М.
Микросистемная техника – активно развивающееся направление, создающее функционально законченные нано- и микроразмерные устройства, характеристики которых кардинальным образом отличаются от характеристик устройств аналогичного назначения, созданных по традиционным технологиям.
Учебное пособие содержит сведения о физических принципах
функционирования электромеханических систем и об основных технологиях их производства. Приведены примеры использования микроэлектромеханических систем в различной аппаратуре как бытового, так и специального назначения.
Предпросмотр: Введение в микросистемную технику.pdf (0,1 Мб)