Национальный цифровой ресурс Руконт - межотраслевая электронная библиотека (ЭБС) на базе технологии Контекстум (всего произведений: 634620)
Контекстум
.

Многомерный статистический контроль технологического процесса (1500,00 руб.)

0   0
Первый авторКлячкин В. Н.
ИздательствоМ.: Финансы и статистика
Страниц193
ID787944
АннотацияРассматриваются математические модели, методы и программное обеспечение многомерного статистического контроля показателей качества в технологическом процессе. Предложен ряд новых методов повышения эффективности многомерного статистического контроля процесса. Анализируется чувствительность различных типов контрольных карт к возможным нарушениям технологического процесса.
Кому рекомендованоДля специалистов, разрабатывающих и использующих методы статистического контроля процессов. Книга будет полезна работникам, занимающимся вопросами управления качеством, а также преподавателям и студентам технических и экономических специальностей вузов.
ISBN978-5-00184-073-2
УДК658.562.012.7
ББК65.290-80в647
Клячкин, В.Н. Многомерный статистический контроль технологического процесса : [монография] / В.Н. Клячкин .— Москва : Финансы и статистика, 2022 .— 193 с. : ил. — Библиогр.: с. 182-189 .— ISBN 978-5-00184-073-2 .— URL: https://rucont.ru/efd/787944 (дата обращения: 20.04.2024)

Предпросмотр (выдержки из произведения)

Многомерный_статистический_контроль_технологического_процесса.pdf
УДК 658.562.012.7 ББК 65.290-80в647 К52 РЕЦЕНЗЕНТЫ: кафедра «Теория вероятностей» института – технического университета (МАИ); Ю.Н. Кофанов, Московского государственного авиационного лауреат премии Правительства РФ, доктор технических наук, профессор (Московский государственный институт электроники и математики – технический университет (МИЭМ)) доктор физико-математических наук, профессор академик АН Татарстана, Научный редактор С.Г. Валеев, Клячкин В.Н. К52 Многомерный статистический контроль технологического процесса. – М.: Финансы и статистика, 2022. – Режим доступа: https://finstat.ru/wp-content/uploads/2022/04/Kliachkin_ Mnogomernyi-statisticheskii-kontrol-tehnologicheskogo-processa_ 2022.pdf, ограниченный. – Загл. с экрана. – 192 с.: ил. ISBN 978-5-00184-073-2 Рассматриваются математические модели, методы и программное обеспечение многомерного статистического контроля показателей качества в технологическом процессе. Предложен ряд новых методов повышения эффективности многомерного статистического контроля процесса. Анализируется чувствительность различных типов контрольных карт к возможным нарушениям технологического процесса. Для специалистов, разрабатывающих и использующих методы статистического контроля процессов. Книга будет полезна работникам, занимающимся вопросами управления качеством, а также преподавателям и студентам технических и экономических специальностей вузов. УДК 658.562.012.7 ББК 65.290-80в647 ISBN 978-5-00184-073-2 © Клячкин В.Н., 2003, 2022 © ООО «Издательство «Финансы и статистика», 2022
Стр.3
Оглавление Предисловие ……………………………………………………….. Глава 1 Использование контрольных карт Шухарта ………………….. 1.1. Статистический контроль технологического процесса как проблема вероятностной диагностики ……………. 1.2. Контроль среднего уровня настройки процесса ………. 1.3. Контроль технологического рассеивания ……………… 1.4. Анализ чувствительности карт Шухарта ………………. 1.5. Карты Шухарта на главных компонентах ……………... Глава 2 Контрольная карта Хотеллинга ………………………………… 2.1. Статистика Хотеллинга ………………………………….. 2.2. Контрольные границы …………………………………… 2.3. Интерпретация карты Хотеллинга ……………………… 2.4. Воспроизводимость многомерного процесса …………... 2.5. Анализ чувствительности многомерной карты ………... 2.6. Карта Хотеллинга с предупреждающей границей ……... 2.7. Многомерный контроль в условиях нарушения нормальности распределения показателей ……………... Глава 3 Обнаружение малых смещений среднего уровня настройки процесса ………………………………………………. 3.1. Контрольные карты кумулятивных сумм ………………. 3.2. Алгоритмы многомерных кумулятивных сумм ………... 3.2.1. Алгоритм Крозера …………………………………. 3.2.2. Алгоритм Пигнателло – Рунгера …………………. 3.2.3. Методы анализа чувствительности ………………. 3.3. Карты экспоненциально взвешенных скользящих средних ……………………………………… 3.3.1. Одномерные карты ………………………………… 3.3.2. Алгоритм многомерных экспоненциально взвешенных скользящих средних ………………… 3.3.3. Оценка параметров ………………………………… 3.3.4. Использование предупреждающей границы …….. 3.3.5. Методика построения карты ……………………… 3.4. Сравнительный анализ чувствительности карт ………... 190 3 7 7 11 15 18 24 33 33 36 37 42 48 53 60 70 70 80 80 82 84 88 88 90 91 95 97 100
Стр.191
Глава 4 Обнаружение изменения рассеивания процесса ……………… 4.1. Характеристики многомерного рассеивания …………... 4.2. Методы контроля технологического рассеивания ……... 4.3. Многомерные карты стандартных отклонений ………... Глава 5 Контроль технологического процесса по регрессионным остаткам …………………………………… 5.1. Постановка задачи ……………………………………….. 5.2. Построение регрессионных моделей …………………… 5.2.1. Методология регрессионного моделирования …... 5.2.2. Независимые регрессии …………………………… 5.2.3. Псевдонезависимые регрессии …………………… 5.2.4. Регрессии на откликах – главных компонентах …. 5.3. Выбор оптимальной модели …………………………….. 5.3.1. Внутренние меры качества модели ………………. 5.3.2. Внешние критерии ………………………………… 5.3.3. Статистические испытания моделей ……………... 103 103 106 108 5.4. Оценка параметров регрессионных остатков …………... 5.5. Контрольные карты регрессионных остатков ………….. Глава 6 Программное обеспечение многомерного статистического контроля …………………... 6.1. Методика многомерного контроля ……………………… 6.1.1. Предварительный анализ процесса ………………. 6.1.2. Мониторинг процесса ……………………………... 6.1.3. Диагностика нарушений процесса ………………... 6.1.4. Принятие решения по результатам контроля ……. 6.2. Использование универсальных статистических пакетов 6.3. Программный комплекс многомерного статистического анализа и контроля ……………………. 6.4. Примеры расчета …………………………………………. Литература …………………………………………………………. 112 112 115 115 121 130 134 135 135 138 147 148 150 153 153 154 156 157 158 163 170 176 182
Стр.192

Облако ключевых слов *


* - вычисляется автоматически
.
.