Национальный цифровой ресурс Руконт - межотраслевая электронная библиотека (ЭБС) на базе технологии Контекстум (всего произведений: 636193)
Контекстум
Руконтекст антиплагиат система
Вестник Московского университета. Серия 3. Физика. Астрономия  / №3 2013

20-бифуркации в системе взаимодействующих квантовых молекул в матрице из метаматериала (60,00 руб.)

0   0
Первый авторЖуковский
АвторыКревчик В.Д., Семенов М.Б., Зайцев Р.В., Арынгазин А.К.
Страниц7
ID572651
АннотацияПроведено теоретическое исследование апияния электрического поля на процесс ID- и 20-тун-нелирования в квантовой молекуле, находящейся в диэлектрической матрице и матрице из метаматериала (с эффективно отрицательной диэлектрической проницаемостью) при конечной температуре в одноинстантонном приближении. Показано, что устойчивый режим 20-бифуркаций в такой матрице может иметь место в существенно более узком диапазоне параметров по сравнению с обычными диэлектрическими матрицами. Проведено качественное сравнение зависимости вероятности lD-диссипативного туннелирования от напряженности внешнего электрического поля с экспериментальной туннельной вольт-амперной характеристикой для полупроводниковых квантовых точек из InAS/GaAs
УДК539.2; 541.117.
20-бифуркации в системе взаимодействующих квантовых молекул в матрице из метаматериала / В.Ч. Жуковский [и др.] // Вестник Московского университета. Серия 3. Физика. Астрономия .— 2013 .— №3 .— С. 40-46 .— URL: https://rucont.ru/efd/572651 (дата обращения: 18.05.2024)

Предпросмотр (выдержки из произведения)

Проведено теоретическое исследование апияния электрического поля на процесс ID- и 20-тун-нелирования в квантовой молекуле, находящейся в диэлектрической матрице и матрице из метаматериала (с эффективно отрицательной диэлектрической проницаемостью) при конечной температуре в одноинстантонном приближении. <...> Показано, что устойчивый режим 20-бифуркаций в такой матрице может иметь место в существенно более узком диапазоне параметров по сравнению с обычными диэлектрическими матрицами. <...> Проведено качественное сравнение зависимости вероятности lD-диссипативного туннелирования от напряженности внешнего электрического поля с экспериментальной туннельной вольт-амперной характеристикой для полупроводниковых квантовых точек из InAS/GaAs! <...>