Национальный цифровой ресурс Руконт - межотраслевая электронная библиотека (ЭБС) на базе технологии Контекстум (всего произведений: 635051)
Контекстум
Руконтекст антиплагиат система
Технологии в электронной промышленности  / №2 (78) 2015

Новый аналого-цифровой тестер от JTAG Technologies (45,00 руб.)

0   0
Страниц1
ID453227
АннотацияКомпания JTAG Technologies совместно с ГК «Остек» представила новые возможности систем периферийного сканирования на прошедшей в начале февраля выставке «Автоматизация. Электроника-2015» в Минске (Республика Беларусь)
Новый аналого-цифровой тестер от JTAG Technologies // Технологии в электронной промышленности .— 2015 .— №2 (78) .— С. 74-74 .— URL: https://rucont.ru/efd/453227 (дата обращения: 05.05.2024)

Предпросмотр (выдержки из произведения)

Технологии в электронной промышленности, № 2’2015 до 8–9 °C/с, что увеличивает время пайки с 17 до 25 с. <...> Для ИК-пайки испытания проводились при мощности ИК-лампы 750 и 650 Вт. <...> Скорость ИК-нагрева составила 5–6 °C/с, а время пайки увеличилось до 48–50 с. <...> Термопрофили пайки термофеном: 1 — 4 мм; 2 — 10 мм; 3 — 12 мм; 4 — 10 мм Автоматизированные системы контроля, созданные на основе микрокомпьютеров и оснащенные современным программным обеспечением, позволяют объективно и в реальном масштабе времени не только контролировать, но и поддерживать в заданных диапазонах необходимые технологические параметры, а также получать графические зависимости для наглядного отображения имеющихся данных и оптимизации режимов монтажа электронных модулей. <...> Е. В. Формирование токопроводящих контактных соединений в изделиях электроники. <...> Температурновременные профили пайки электронных модулей // Технологии в электронной промышленности. <...> Новый аналого-цифровой тестер от JTAG Technologies Компания JTAG Technologies совместно с ГК «Остек» представила новые возможности систем периферийного сканирования на прошедшей в начале февраля выставке «Автоматизация. <...> На стенде демонстрировался контроллер периферийного сканирования JT5705/USB — первый представитель нового семейства аналого-цифровых тестеров от JTAG Technologies. <...> Помимо тестирования цифровой части платы с помощью JTAG-технологий, JT5705 также измеряет напряжения от 0 до 30 В, частоты от 0 до 200 МГц, использует встроенный генератор частоты и измеритель длины импульсов. <...> Все эти возможности позволяют получить гораздо большее тестовое покрытие для цифровых и цифро-аналоговых плат. <...> На экспозиции была представлена и концепция стенда для проверки отдельных компонентов с помощью контроллера периферийного сканирования и программного обеспечения JTAG ProVision. <...> Такие проверки (тест сложных компонентов до монтажа на плату) становятся все более востребованными отечественными производителями электроники. <...> Следующая <...>