Р.П. ДИКАРЕВА, С.П. ХАБАРОВ
ФИЗИКА ТВЕРДОГО ТЕЛА
И ПОЛУПРОВОДНИКОВ
ОПРЕДЕЛЕНИЕ ВРЕМЕНИ ЖИЗНИ
НЕОСНОВНЫХ НОСИТЕЛЕЙ ЗАРЯДА
МЕТОДОМ МОДУЛЯЦИИ ПРОВОДИМОСТИ
Учебно-методическое пособие
НОВОСИБИРСК
2011
УДК 539.2(075.8)
Д 451
Рецензенты: В.А. Гайслер, проф., д-р физ.-мат. наук <...> В.М. Меренков, доц., канд. техн. наук
Работа подготовлена на кафедре
полупроводниковых приборов и микроэлектроники
и утверждена Редакционно-издательским советом университета
в качестве учебно-методического пособия
для студентов III курса дневного и заочного отделений РЭФ
(направления 210100, 210600)
Д 451
Дикарева Р.П. <...> Определение времени жизни неосновных носителей заряда методом модуляции
проводимости: учеб.-метод. пособие / Р.П. Дикарева, С.П. Хабаров. <...> ISBN 978-5-7782-1667-9
Дано краткое описание способа измерения времени жизни неосновных носителей заряда методом модуляции проводимости точечного
контакта. <...> В работе рассмотрен вопрос о времени жизни неосновных носителей заряда и
изложена теория механизма рекомбинации через локальные центры захвата. <...> Приведены краткие теоретические сведения о неравновесных процессах в полупроводниковых материалах, дано описание лабораторной
установки, изложена методика проведения эксперимента и обработки
экспериментальных данных, указаны требования к отчету. <...> В конце описания лабораторной работы приведены контрольные вопросы для самоподготовки студентов и список рекомендованной литературы. <...> .
УДК 539.2(075.8)
Дикарева Р.П., Хабаров С.П., 2011
Новосибирский государственный
технический университет, 2011
ISBN 978-5-7782-1667-9
2
ОПРЕДЕЛЕНИЕ ВРЕМЕНИ ЖИЗНИ
НЕОСНОВНЫХ НОСИТЕЛЕЙ ЗАРЯДА
МЕТОДОМ МОДУЛЯЦИИ ПРОВОДИМОСТИ
Цель работы – измерение времени жизни неосновных носителей заряда методом модуляции проводимости точечного контакта. <...> В работе рассмотрен вопрос о времени жизни неосновных носителей заряда и
изложена теория механизма рекомбинации через локальные центры
захвата. <...> Время жизни неосновных носителей заряда
Свободные <...>
Физика_твердого_тела_и_полупроводников._Определение_времени_жизни_неосновных_носителей_заряда_методом_модуляции_проводимости.pdf
Министерство образования и науки Российской Федерации
НОВОСИБИРСКИЙ ГОСУДАРСТВЕННЫЙ ТЕХНИЧЕСКИЙ УНИВЕРСИТЕТ
Р.П. ДИКАРЕВА, С.П. ХАБАРОВ
ФИЗИКА ТВЕРДОГО ТЕЛА
И ПОЛУПРОВОДНИКОВ
ОПРЕДЕЛЕНИЕ ВРЕМЕНИ ЖИЗНИ
НЕОСНОВНЫХ НОСИТЕЛЕЙ ЗАРЯДА
МЕТОДОМ МОДУЛЯЦИИ ПРОВОДИМОСТИ
Учебно-методическое пособие
НОВОСИБИРСК
2011
Стр.1
УДК 539.2(075.8)
Д 451
Рецензенты: В.А. Гайслер, проф., д-р физ.-мат. наук
В.М. Меренков, доц., канд. техн. наук
Работа подготовлена на кафедре
полупроводниковых приборов и микроэлектроники
и утверждена Редакционно-издательским советом университета
в качестве учебно-методического пособия
для студентов III курса дневного и заочного отделений РЭФ
(направления 210100, 210600)
Дикарева Р.П.
Д 451 Физика твердого тела и полупроводников. Определение времени
жизни неосновных носителей заряда методом модуляции
проводимости: учеб.-метод. пособие / Р.П. Дикарева, С.П. Хабаров.
– Новосибирск: Изд-во НГТУ, 2011. – 24 с.
ISBN 978-5-7782-1667-9
Дано краткое описание способа измерения времени жизни неосновных
носителей заряда методом модуляции проводимости точечного
контакта. Измерения проводятся на образцах германия и кремния. В работе
рассмотрен вопрос о времени жизни неосновных носителей заряда и
изложена теория механизма рекомбинации через локальные центры захвата.
Приведены краткие теоретические сведения о неравновесных процессах
в полупроводниковых материалах, дано описание лабораторной
установки, изложена методика проведения эксперимента и обработки
экспериментальных данных, указаны требования к отчету. В конце описания
лабораторной работы приведены контрольные вопросы для самоподготовки
студентов и список рекомендованной литературы.
.
УДК 539.2(075.8)
ISBN 978-5-7782-1667-9
2
© Дикарева Р.П., Хабаров С.П., 2011
© Новосибирский государственный
технический университет, 2011
Стр.2