Свободный доступ
Ограниченный доступ
Автор: Денисов В. И.
Изд-во НГТУ
Излагаются теоретические и прикладные аспекты проблемы активной па-
раметрической идентификации многомерных стохастических линейных дис-
кретных и непрерывно-дискретных систем, описываемых моделями в про-
странстве состояний. Рассматривается наиболее общий характер вхождения
неизвестных параметров: в матрицы состояния, управления, возмущения, изме-
рения, в начальные условия и в ковариационные матрицы помех динамики и
ошибок измерений в различных комбинациях. Приводятся алгоритмы активной
параметрической идентификации во временной и частотной областях, позво-
ляющие решать задачи оптимального оценивания параметров методами макси-
мального правдоподобия и наименьших квадратов с привлечением прямых и
двойственных градиентных процедур синтеза оптимальных входных сигналов.
Предпросмотр: Активная параметрическая идентификация стохастических линейных систем.pdf (0,5 Мб)
Спутник+: М.
В журналах публикуются рецензируемые научные статьи аспирантов, соискателей, докторантов и научных работников по различным отраслям знаний
Разработка и сервисное обслуживание средств измерения, автоматизации, телемеханизации и связи, АСУТП, ИИС, САПР и метрологическому, математическому, программному обеспечению.
С 2022 г. новое название журнала - Автоматизация и информатизация ТЭК
Издательство Сибирского отделения Российской академии наук
Научный журнал Сибирского отделения РАН. В журнале публикуются оригинальные статьи и обзоры по следующим разделам: - суперкомпьютерные системы анализа и синтеза изображений (сигналов); - методы и средства искусственного интеллекта в научных исследованиях; - вычислительные сети и системы передачи данных; - автоматизация проектирования в микро- и оптоэлектронике; - микропроцессорные системы реального времени для научных и промышленных применений; - физика твердого тела, оптика и голография в приложениях к компьютерной и измерительной технике; - физические и физико-технические аспекты микро- и оптоэлектроники; - лазерные информационные технологии, элементы и системы.
В редакционную коллегию входят признанные специалисты ведущих академических институтов России. Журнал адресован научным работникам, аспирантам, инженерам и студентам, интересующимся результатами фундаментальных и прикладных исследований в области высоких информационных технологий на базе новейших достижений физики, фотохимии, материаловедения, информатики и компьютерной техники. Круг авторов журнала широк: от ведущих научных центров и вузов России до ближнего и дальнего зарубежья. Все без исключения статьи рецензируются.
В журнале публикуются оригинальные статьи и обзоры по следующим разделам:
* анализ и синтез сигналов и изображений;
* системы автоматизации в научных исследованиях и промышленности;
* вычислительные и информационно-измерительные системы;
* физико-технические основы микро- и оптоэлектроники;
* оптические информационные технологии;
* моделирование в физико-технических исследованиях;
* нанотехнологии в оптике и электронике.
Журнал практикует выпуск специализированных номеров.
Журнал включен в Перечень ведущих рецензируемых научных журналов, рекомендованных для публикаций Высшей аттестационной комиссией.
Журнал переводит и издает фирма “Аллертон Пресс” (США) под названием “Optoelectronics, Instrumentation and Data Processing”.
Учредителями журнала являются: Сибирское отделение РАН и Институт автоматики и электрометрии СО РАН.