Р О С С И Й С К А Я А К А Д Е М И Я Н А У К
СИБИРСКОЕ ОТДЕЛЕНИЕ
НАУЧНЫЙ ЖУРНАЛ
ОСНОВАН В ЯНВАРЕ 1965 ГОДА
Том 54
А В Т О М Е Т Р И Я
2018
МАРТ — АПРЕЛЬ
СОДЕРЖАНИЕ
ОПТИЧЕСКИЕ ИНФОРМАЦИОННЫЕ ТЕХНОЛОГИИ
Полещук А. Г. , Корольков В. П., Вейко В. П., Заколдаев Р. А., Сергеев М. М. Лазерные
технологии в микрооптике. Ч. II. Изготовление элементов с трёхмерным микрорельефом.
Генцелев А. Н., Дульцев Ф. Н., Кондратьев В. И., Лемзяков А. Г. Формирование толстых
высокоаспектных резистивных масок методом контактной фотолитографии . . . . . . . . . . . . . . . . .
Пен Е. Ф. Регистрация рефлексов высоких порядков в объёмных отражательных голографических
решётках . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Белоусов Д. А., Полещук А. Г. , Хомутов В. Н. Устройство для регистрации дифракционной
картины синтезированных голограмм в широком угловом диапазоне . . . . . . . . . . . . . . . . . .
АНАЛИЗ И СИНТЕЗ СИГНАЛОВ И ИЗОБРАЖЕНИЙ
Артюшенко В. М., Воловач В. И. Алгоритмы оценки информационных параметров сигнала
при воздействии широкополосных негауссовских помех . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Сурин В. А., Тырсин А. Н. Модель нелинейного фильтра для цифровой обработки контрастных
изображений. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Донец И. В., Рейзенкинд Я. А., Шевченко В. Н. Экспериментальная проверка вариационной
процедуры построения многомерных радиоизображений эхо-сигналов в неизлучающих
радарах . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
ФИЗИКО-ТЕХНИЧЕСКИЕ ОСНОВЫ МИКРО- И ОПТОЭЛЕКТРОНИКИ
Деребезов И. А., Гайслер А. В., Гайслер В. А., Дмитриев Д. В., Торопов А. И.,
Кожухов А. C., Щеглов Д. В., Латышев А. В., Асеев А. Л. Спектроскопия одиночных
квантовых точек AlInAs. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Паулиш А. Г., Загубисало П. С., Бараков В. Н., Павлов М. А. Экспериментальное исследование
пьезооптического преобразователя для высокочувствительных датчиков деформации.
Абрамкин Д. С., Петрушков М. О., Емельянов Е. А., Путято М. А., Семягин Б. Р.,
Васев А. В., Есин М. Ю., Лошкарев И. Д., Гутаковский А. К., Преображенский
В. В., Шамирзаев Т. С. Влияние дислокационного фильтра на основе LT-GaAs на
совершенство слоёв GaAs/Si . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Паханов Н. А., Андреев В. М., Шварц М. З., Пчеляков О. П. Современные архитектуры
и технологии высокоэффективных солнечных элементов на гетероструктурах III—V для
космического и наземного применения . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
ВЫЧИСЛИТЕЛЬНЫЕ И ИНФОРМАЦИОННО-ИЗМЕРИТЕЛЬНЫЕ СИСТЕМЫ
Юдин Ю. В., Григорьев Д. Н., Эпштейн Л. Б. Канал усиления сигналов лавинных фотодиодов
для спектрометрических измерений при высокой пиковой загрузке . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 113
Анисёнков А. В. Роль информационной системы AGIS в обеспечении распределённой обработки
и моделирования данных эксперимента ATLAS. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 118
70
78
43
54
63
3
20
30
35
ВЫХОДИТ 6 РАЗ В ГОД
№ 2
85
93
ИЗДАТЕЛЬСТВО СО РАН
НОВОСИБИРСК
2018
Стр.1
ГЛАВНЫЙ РЕДАКТОР А. М. ШАЛАГИН
Институт автоматики и электрометрии СО РАН
ЗАМЕСТИТЕЛИ ГЛАВНОГО РЕДАКТОРА: Ю. Н. ЗОЛОТУХИН,
В. К. МАЛИНОВСКИЙ
ОТВЕТСТВЕННЫЙ СЕКРЕТАРЬ
А. Л. АСЕЕВ
С. А. БАБИН
С. М. БОРЗОВ
И. В. БЫЧКОВ
В. П. КОСЫХ
Г. Н. КУЛИПАНОВ
Ю. Н. КУЛЬЧИН
А. В. ЛАТЫШЕВ
Д. М. МАРКОВИЧ
Институт автоматики и электрометрии СО РАН
В. П. БЕССМЕЛЬЦЕВ
Институт автоматики и электрометрии СО РАН
РЕДАКЦИОННАЯ КОЛЛЕГИЯ:
Сибирское отделение РАН
Институт автоматики и электрометрии СО РАН
Институт автоматики и электрометрии СО РАН
Институт динамики систем
и теории управления им. В. М. Матросова СО РАН
Институт автоматики и электрометрии СО РАН
Институт ядерной физики им. Г. И. Будкера СО РАН
Дальневосточное отделение РАН
Институт физики полупроводников им. А. В. Ржанова СО РАН
Институт теплофизики им. С. С. Кутателадзе СО РАН
Е. С. НЕЖЕВЕНКО Институт автоматики и электрометрии СО РАН
О. И. ПОТАТУРКИН Институт автоматики и электрометрии СО РАН
В. А. СОЙФЕР
А. А. СПЕКТОР
С. К. ТУРИЦЫН
Институт систем обработки изображений РАН
Новосибирский государственный технический университет
Г. Е. ФАЛЬКОВИЧ
Ю. В. ЧУГУЙ
Ю. И. ШОКИН
Институт фотонных технологий
университета Астон, Великобритания
Институт Вейцмана, Израиль
Конструкторско-технологический институт
научного приборостроения СО РАН
Институт вычислительных технологий СО РАН
УЧРЕДИТЕЛИ ЖУРНАЛА:
Сибирское отделение РАН,
Институт автоматики и электрометрии СО РАН
Заведующая редакцией Р. П. ШВЕЦ
Сдано в набор 5.02.2018. Подписано в печать 5.04.2018. Выход в свет 28.04.2018.
Формат (60 Ч 84) 1/8. Офсетная печать. Усл. печ. л. 13,95. Усл. кр.-отт. 11,2. Уч.-изд. л. 11,2.
Тираж 116 экз. Свободная цена. Заказ № 71.
Журнал зарегистрирован в Министерстве РФ по делам печати, телерадиовещания
и средств массовых коммуникаций 31.05.2002.
Свидетельство ПИ № 77-12809
Адрес редакции: Институт автоматики и электрометрии СО РАН,
просп. Академика Коптюга, 1, Новосибирск 630090,
тел. 8(383) 330-79-38, E-mail: automr@iae.nsk.su
http://sibran.ru
Издательство СО РАН, Морской просп., 2, Новосибирск 630090.
Отпечатано на полиграфическом участке Издательства СО РАН
-c Сибирское отделение РАН,
Институт автоматики и
электрометрии СО РАН, 2018
Стр.2