Электрически активные центры захвата носителей заряда в диоксиде кремния Si02 и кристаллах слюды (250,00 руб.)

Первый автор	Новиков
Авторы	Федчишин В.В.
Страниц	5

ID	605596
Аннотация	Исследование электрически активных центров захвата (ЭЛЦЗ) в слюде проводилось методом электретной поляриметрии в электрическом газовом коронном разряде (ЭГКР) и методом токов термостимулированной деполяризации ТСД. Представлены экспериментальные результаты ucaie-дования влияния радиационной и термической модификации на электретные свойства слюды. Экспериментально доказан факт тушения электретной поляризации в слоях диоксида кремния, полученных в результате высокотемпературного отжига монокристаллов слюды мусковит. Показано, что ЭАЦЗ в кристаллах слюды являются радиационные вакансионные дефекты К*ОН ионной кристаллической подрешетки слюды

Новиков, Т.К. Электрически активные центры захвата носителей заряда в диоксиде кремния Si02 и кристаллах слюды / Т.К. Новиков, В.В. Федчишин // Электричество. Теоретический и научно-практический рецензируемый журнал .— 2017 .— №5 .— С. 59-63 .— URL: https://rucont.ru/efd/605596 (дата обращения: 28.06.2024)