РЕШЕНИЕ ОБРАТНОЙ ЗАДАЧИ ДИФРАКЦИИ В УСЛОВИЯХ ОСТРОЙ ФОКУСИРОВКИ НА ОСНОВЕ ИТЕРАЦИОННОГО АЛГОРИТМА Фидирко Никита Сергеевич, аспирант. <...> Самарский национальный исследовательский университет имени академика С.П. Королёва, Самара, Россия; e-mail: xfocuse@gmail.com Волотовский Сергей Геннадьевич, ведущий программист. <...> Институт систем обработки изображения РАН – филиал Федерального государственного учреждения «Федеральный научно-исследовательский центр «Кристаллография и фотоника» Российской академии наук»; инженер НОЦ-403, Самарский национальный исследовательский университет имени академика С.П. Королёва, Самара, Россия; e-mail: sv@smr.ru Аннотация: В данной работе рассматривается итерационный подход к решению обратной задачи дифракции в условиях острой фокусировки. <...> Показано, что с его использованием можно получить комплексное распределение на входе фокусирующей системы, обеспечивающее формирование в фокальной плоскости определенного наперед заданного распределения интенсивности. <...> В результате итерационного расчета было получено комплексное распределение поперечных компонентов входного поля, обеспечивающее фокусировку в световое пятно меньше дифракционного предела. <...> ITERATIVE APPROACH TO SOLVE THE INVERSE DIFFRACTION PROBLEM UNDER SHARP FOCUSING CONDITIONS Fidirko Nikita Sergeevich., postgraduate student. <...> Russia Samara National Research University, Samara, Russia, e-mail: xfocuse@gmail.com Volotovskiy Sergey Gennadyevich., lead developer. <...> IPSI RAS – Branch of the FSRC «Crystallography and Photonics» RAS; engineer at NEC – 403; Russia Samara National Research University, Samara, Russia, e-mail: sv@smr.ru Abstract: In this paper, we consider an iterative approach to solve the inverse diffraction problem under sharp focusing conditions. <...> It is shown that using this approach we can obtain a complex distribution in the entrance of the focusing system that creates desired intensity distribution in the focal area. <...> As a result of the iteration process we obtained a complex distribution of transverse components of the initial field that is focused in a light spot smaller than the diffraction limit. <...> ВВЕДЕНИЕ <...>