Национальный цифровой ресурс Руконт - межотраслевая электронная библиотека (ЭБС) на базе технологии Контекстум (всего произведений: 615034)
Контекстум
Известия высших учебных заведений. Поволжский регион. Физико-математические науки  / №2 2015

СИНТЕЗ НАДЕЖНЫХ СХЕМ ПРИ КОНСТАНТНЫХ НЕИСПРАВНОСТЯХ НА ВХОДАХ И ВЫХОДАХ ЭЛЕМЕНТОВ (90,00 руб.)

0   0
Первый авторАлехина
Страниц11
ID552672
АннотацияАктуальность и цели. Рассматривается реализация булевых функций схемами из ненадежных функциональных элементов в базисе, состоящем из одной функции – штрих Шеффера. Задача синтеза надежных схем, реализующих булевы функции, при константных неисправностях одного типа (например, только типа 0 на входах элементов) решалась ранее автором во многих статьях, но, в отличие от них, в этой работе впервые исследуется модель, в которой каждый элемент схемы может быть подвержен константным неисправностям сразу четырех типов: типа 0 и типа 1 на входах и выходах (с различными вероятностями). Заметим также, что при подходящем выборе параметров эта модель описывает инверсные неисправности элементов на входах и (или) выходах. Цель работы – построить надежные схемы, получить верхние и нижние оценки ненадежности схем Материалы и методы. При построении надежных схем использованы ранее известные методы синтеза и получения оценок ненадежности. Результаты. Получена верхняя оценка ненадежности схем. Описан класс функций K, содержащий почти все булевы функции, и доказана нижняя оценка ненадежности схем, реализующих функции из этого класса. Для функции из класса K построена схема, верхняя и нижняя оценки ненадежности которой асимптотически равны. Полученные результаты могут быть использованы при проектировании технических систем для повышения их надежности. Выводы. Почти любую булеву функцию можно реализовать схемой, верхняя и нижняя оценки ненадежности которой асимптотически равны.
УДК519.718
Алехина, М.А. СИНТЕЗ НАДЕЖНЫХ СХЕМ ПРИ КОНСТАНТНЫХ НЕИСПРАВНОСТЯХ НА ВХОДАХ И ВЫХОДАХ ЭЛЕМЕНТОВ / М.А. Алехина // Известия высших учебных заведений. Поволжский регион. Физико-математические науки .— 2015 .— №2 .— С. 5-15 .— URL: https://rucont.ru/efd/552672 (дата обращения: 27.07.2025)

Предпросмотр (выдержки из произведения)

Математика МАТЕМАТИКА УДК 519.718 М. А. Алехина СИНТЕЗ НАДЕЖНЫХ СХЕМ ПРИ КОНСТАНТНЫХ НЕИСПРАВНОСТЯХ НА ВХОДАХ И ВЫХОДАХ ЭЛЕМЕНТОВ1 Аннотация. <...> Рассматривается реализация булевых функций схемами из ненадежных функциональных элементов в базисе, состоящем из одной функцииштрих Шеффера. <...> Задача синтеза надежных схем, реализующих булевы функции, при константных неисправностях одного типа (например, только типа 0 на входах элементов) решалась ранее автором во многих статьях, но, в отличие от них, в этой работе впервые исследуется модель, в которой каждый элемент схемы может быть подвержен константным неисправностям сразу четырех типов: типа 0 и типа 1 на входах и выходах (с различными вероятностями). <...> Заметим также, что при подходящем выборе параметров эта модель описывает инверсные неисправности элементов на входах и (или) выходах. <...> Описан класс функций K, содержащий почти все булевы функции, и доказана нижняя оценка ненадежности схем, реализующих функции из этого класса. <...> Для функции из класса K построена схема, верхняя и нижняя оценки ненадежности которой асимптотически равны. <...> Почти любую булеву функцию можно реализовать схемой, верхняя и нижняя оценки ненадежности которой асимптотически равны. <...> Ключевые слова: ненадежные функциональные элементы, надежность схемы, ненадежность схемы, константные неисправности типа 0 и 1 на входах и выходах элементов. <...> Alehina SYNTHESIS OF RELIABLE CIRCUITS AT CONSTANT FAILURES AT GATESINPUTS AND OUTPUTS Abstract. <...> The article considers realization of Boolean functions by circuits made of unreliable functional gates in a basis, consisting of a single function – the Sheffer function. <...> The problem of synthesis of reliable circuits, realizing Boolean functions at constant failures of similar type (for example, only of 0 type at gatesinputs) was solved by the author in many articles, but unlike the previous articles, this one considers a model where each circuit gate may be subject to constant fail1 Работа выполнена <...>