010-027 Е. Г. Базулин, канд. физ.-мат. наук, А. Х. Вопилкин, д-р техн. наук, Д. С. Тихонов, канд. техн. наук (ООО «Научно-производственный центр «ЭХО+», Москва) E-mail: bazulin@echoplus.ru ПОВЫШЕНИЕ ДОСТОВЕРНОСТИ УЛЬТРАЗВУКОВОГО КОНТРОЛЯ Часть 2. <...> Повышение отношения сигнал/шум* Рассмотрены способы повышения отношения сигнал/шум при когерентном восстановлении изображения отражателей, основанные на когерентном накоплении полезного сигнала. <...> Продемонстрирована эффективность применения сложных сигналов для повышения отношения сигнал/шум при малом уровне полезного сигнала. <...> Для уменьшения уровня структурного шума предложено использовать методы обработки эхосигналов в целях достижения эффекта сверхразрешения. <...> К таким методам относятся метод максимальной энтропии (МЭ), метод построения AR-модели спектра эхосигналов и метод расщепления спектра. <...> Продемонстрирована эффективность метода МЭ для восстановления изображения отражателей по набору эхосигналов в объекте со структурным шумом. <...> Ключевые слова: ультразвуковой неразрушающий контроль, антенные решетки, призмы, двойное сканирование, FMC, C-SAFT, TFM, цифровая фокусировка антенной решеткой (ЦФА), структурный шум, сверхразрешение, сложные сигналы, построение AR-модели. <...> Restoring the image of flaw by C-SAFT method reduces the impact of indirect reflections. <...> Keywords: ultrasonic nondestructive testing, antenna arrays, prisms, dual scanning, FMC, C-SAFT, TFM, digital focusing array (DFA), structural noise, superresolution, complex signals, maximum entropy method (MEM), method of constructing a model AR-echo spectrum and method of splitting the spectrum. <...> Не менее важной задачей является создание алгоритмов, которые обеспечат восстановление изображения несплошностей с минимальным уровнем шумов, так как это определяет чувствительность контроля. <...> В традиционной дефектоскопии считается, что отражатель является дефектом, если амплитуда эхосигнала, отраженного от него, больше уровня, установленного по методике контроля. <...> При работе с изображениями чувствительность контроля определяется размерами отражателя, восстановленный блик которого можно <...>