E-mail: wmahov@gmail.com ИССЛЕДОВАНИЕ АЛГОРИТМОВ АВТОМАТИЗИРОВАННОЙ КАЛИБРОВКИ ОПТИКО-ЭЛЕКТРОННЫХ ИЗМЕРИТЕЛЬНЫХ СИСТЕМ С МАТРИЧНЫМИ ФОТОПРИЕМНИКАМИ Проведено исследование алгоритмов автоматизированной калибровки оптико-электронных измерительных систем с матричными фотоприемниками по штриховым мерам, в том числе на базе алгоритмов определения максимумов коэффициентов непрерывного вейвлет-преобразования (НВП). <...> Приведены результаты модельных и натурных исследований алгоритмов измерений линейных штриховых мер с использованием различных типов вейвлетов. <...> Показано, что вейвлет MexicanHat детектирует центры штрихов меры, что соответствует нормам метрологической аттестации оптических измерительных систем. <...> Исследования показали, что использование алгоритмов НВП позволяет проводить калибровку оптико-электронных измерительных систем локально по полю изображения штриховой меры с точностью 0,1 пикселя, что в 10 раз выше точности измерения способом совмещения визира со штрихом. <...> Petersburg) RESEARCH OF ALGORITHMS AUTOMATED CALIBRATION OPTOELECTRONIC MEASURING SYSTEMS WITH MATRIX PHOTO DETECTORS The study of algorithms automated calibration optoelectronic measuring systems with matrix photo detectors on a bar less frames, including on the basis of algorithms for determining the coefficients of the maxima of the continuous wavelet transform (CWT). <...> It is shown that the wavelet centers Mexican Hat detects touches measures that conforms metrological certification of optical measuring systems. <...> Keywords: optoelectronic measuring system, the continuous wavelet transform, CWT, linear measure, object micrometer. <...> Успехи микроэлектроники в последние годы привели к созданию качественных сенсоров изображения высокого разрешения, что существенно расширяет возможности оптико-электронных измерительных систем (ОЭИС) на их основе. <...> Основным вопросом применения ОЭИС в технических измерениях является их калибровка. <...> Известные эталоны для калибровки оптических систем выполняются в виде штриховых мер с заданными расстояниями между штрихами, обеспечивают процедуру калибровки оптических измерительных систем путем визуального совмещения визира с центром штриха (объект-микрометры, окуляр-микрометры <...>