В.М. Карпов «Неопределенные влияющие воздействия в метрологическом моделировании информационно-измерительных» УДК 681.5.08 В.М. Карпов (ЗАО «НИИИН МНПО «Спектр», Москва) E-mail: karpusha2004@yandex.ru НЕОПРЕДЕЛЕННЫЕ ВЛИЯЮЩИЕ ВОЗДЕЙСТВИЯ В МЕТРОЛОГИЧЕСКОМ МОДЕЛИРОВАНИИ ИНФОРМАЦИОННО-ИЗМЕРИТЕЛЬНЫХ КАНАЛОВ ДЛЯ АДАПТИРОВАННОГО УПРАВЛЕНИЯ И ТЕХНИЧЕСКОЙ ДИАГНОСТИКИ Совершенствование современных систем контроля и измерений в технической диагностике, развитие адаптивных систем управления в автоматических компьютерных производствах неразрывно связаны с разработкой информационно-измерительных каналов, преобразующих неэлектрические величины в электрические сигналы. <...> Создание таких информационно-измерительных систем на основе метрологического моделирования могло бы способствовать успеху автоматизации производства и развитию диагностических систем. <...> Contemporary control and measuring systems perfecting in technical diagnostics, adopted control systems evolution in automatic computer-based industry are connected with development of informational-measuring channels, transforming nonelectrical values into electrical signals. <...> Development of informational-measuring systems on basis of metrological modelling could promote industry automatization and diagnostic system evolution. <...> Ключевые слова: информационно-измерительный канал, параметрический преобразователь, точность, влияющее воздействие, погрешность, метрологическое моделирование, техническая диагностика. <...> Отсутствие необходимых инструментальных средств, преобразующих с требуемой точностью неэлектрические параметры объектов в электрические сигналы в реальных условиях протекания технологических процессов и технической диагностики оборудования, – это факт конца ХХ в. <...> Получение информации о состоянии диагностируемого объекта или о протекании технологического процесса в условиях автоматического производства требует для создания информационноизмерительных каналов (ИИК) разработки систем компьютерного метрологического моделирования. <...> По сравнению с дру72 гими методами метрологическое компьютерное моделирование позволяет рассматривать <...>