Национальный цифровой ресурс Руконт - межотраслевая электронная библиотека (ЭБС) на базе технологии Контекстум (всего произведений: 634794)
Контекстум
Руконтекст антиплагиат система
Прикладная физика  / №2 2012

Программный комплекс ELIS для моделирования ЭОС плазменных источников электронов (10,00 руб.)

0   0
Первый авторПетрович
АвторыГруздев В.А.
Страниц7
ID432249
АннотацияПредставлен программный комплекс ELIS, предназначенный для моделирования процессов первичного формирования и ускорения пучка в аксиально-симметричных электроннооптических системах плазменных источников электронов, который позволяет проводить сравнительный анализ формирования электронного пучка в различных физических условиях, в том числе при условии неподвижной поверхности эмиттера. Рассмотрена архитектура разработанного программного комплекса.
УДК537.533.3, 621.3.032.26
Петрович, О.Н. Программный комплекс ELIS для моделирования ЭОС плазменных источников электронов / О.Н. Петрович, В.А. Груздев // Прикладная физика .— 2012 .— №2 .— С. 68-74 .— URL: https://rucont.ru/efd/432249 (дата обращения: 26.04.2024)

Предпросмотр (выдержки из произведения)

Прикладная физика № 2, 2012 УДК 537.533.3, 621.3.032.26 Программный комплекс ELIS для моделирования ЭОС плазменных источников электронов О. Н. Петрович, В. А. Груздев Представлен программный комплекс ELIS, предназначенный для моделирования процессов первичного формирования и ускорения пучка в аксиально-симметричных электроннооптических системах плазменных источников электронов, который позволяет проводить сравнительный анализ формирования электронного пучка в различных физических условиях, в том числе при условии неподвижной поверхности эмиттера. <...> Введение Плазменные источники электронов (ПИЭЛ) относятся к электронно-оптическим системам (ЭОС) с плазменными образованиями [1]. <...> Использование плазменных образований для формирования электронных пучков требует повышенных рабочих давлений в области генерации газоразрядной плазмы и, как следствие, в области ускорения пучка. <...> Подвижность плазменной границы, ионизационные и сопутствующие им процессы вторичной ионно-электронной эмиссии являются определяющими при формировании пучка в ПИЭЛ двух основных типов: ПИЭЛ с точечным эмиттером, формирующих узкие пучки, и ПИЭЛ с эмиттером большого сечения, формирующих широкие пучки (рис. <...> В предыдущих работах [2—4] был разработан алгоритм и программа численного анализа ПИЭЛ, формирующих остросфокусированные пучки, а также алгоритм стационарной задачи формирования пучков большого сечения в ПИЭЛ. <...> Предыдущие разработки были дополнены алгоритмом моделирования ПИЭЛ с эмиттером большого сечения в нестационарном режиме и алгоритмом моделирования ионизационных процессов и процессов вторичной эмиссии в источниках электронов с твердотельным эмиттером. <...> Указанные алгоритмы были положены в основу программного комплекса ELIS, численный код которого разработан на языке Фортран, а оконный диалоговый интерфейс написан на языке C#. <...> Е-mail: poni@hotmail.ru Статья поступила в редакцию 22 сентября 2011 г. © Петрович О. Н., Груздев В. А., 2012 <...>