Национальный цифровой ресурс Руконт - межотраслевая электронная библиотека (ЭБС) на базе технологии Контекстум (всего произведений: 634617)
Контекстум
.
Прикладная физика  / №5 2015

Исследование влияния зонной структуры на диэлектрическую проницаемость эпитаксиальных слоев соединений AIIIBV (10,00 руб.)

0   0
Первый авторНиконов
АвторыКуляхтина Н.М., Яковлева Н.И., Болтарь К.О.
Страниц5
ID431822
АннотацияПроведен анализ прямых энергетических переходов в зоне Бриллюэна соединений группы AIIIBV, четверных соединений InGaAsP. Построена модель диэлектрической проницаемости с учетом влияния Г-, L-, X-переходов на широком диапазоне длин волн.
УДК621.383.4/5
Исследование влияния зонной структуры на диэлектрическую проницаемость эпитаксиальных слоев соединений AIIIBV / А.В. Никонов [и др.] // Прикладная физика .— 2015 .— №5 .— С. 21-25 .— URL: https://rucont.ru/efd/431822 (дата обращения: 20.04.2024)

Предпросмотр (выдержки из произведения)

Прикладная физика, 2015, № 5 УДК 621.383.4/5 Исследование влияния зонной структуры на диэлектрическую проницаемость эпитаксиальных слоев соединений AIIIBV А. В. <...> Никонов, Н. М. Куляхтина, Н. И. Яковлева, К. О. Болтарь Проведен анализ прямых энергетических переходов в зоне Бриллюэна соединений группы AIIIBV, четверных соединений InGaAsP. <...> Построена модель диэлектрической проницаемости с учетом влияния Г-, L-, X-переходов на широком диапазоне длин волн. <...> Ci Ключевые слова: лавинные фотоприемники, InGaAsP, гетероэпитаксиальные структуры, диэлектрическая проницаемость, зона Бриллюэна. <...> Введение Анализ энергетических переходов Матричные фотоприемники на основе четверного соединения InGaAsP являются отличным выбором для систем формирования изображений в коротковолновой области ИК-диапазона вследствие высокой квантовой эффективности и зрелости технологии их изготовления [1, 2]. <...> Благодаря прямой структуре энергетических зон данного материала, здесь обеспечиваются высокий коэффициент поглощения и высокое структурное совершенство с низкой плотностью дефектов. <...> Перед разработчиками фотоприемных устройств остро стоит задача контроля и трактовки характеристик ГЭС InGaAsP/InP вблизи края фундаментального поглощения: диэлектрической проницаемости, коэффициента поглощения, показателя преломления. <...> Рассматриваемые характеристики изучались в ранних работах [3, 4], но проведенные исследования характеризуют оптические свойства эпитаксиальных слоев на довольно ограниченном спектральном диапазоне излучения. <...> Целью данной работы было моделирование оптических характеристик слоев соединений AIIIBV, в частности, четверных соединений InGaAsP на широком диапазоне длин волн (0,5—4,0 мкм). <...> Яковлева Наталья Ивановна, зам. начальника НИЦ1. в зоне Бриллюэна материалов со структурой цинковой обманки Четверное соединение InGaAsP, как и большинство важнейших полупроводников, имеет кристаллическую структуру типа сфалерита (цинковой обманки). <...> Особенностью <...>