УДК 004.337, 004.052.42 Оснащение систем на кристалле средствами эмуляции сбоев в памяти О.В. Мамутова, О.В. Ненашев, А.С. Филиппов Санкт-Петербургский государственный политехнический университет System on Chip Instrumentation for Emulated Memory Fault Injection O.V. <...> Filippov Saint-Petersburg State Polytechnic University Представлен новый метод автоматизированного оснащения системы на кристалле агентами внесения неисправностей типа «одиночный сбой» для блоков встроенной памяти. <...> Метод основан на использовании гибридных моделей устройств и может быть применен на этапе прототипирования для любых маршрутов проектирования и форматов исходных описаний. <...> Тестирование на системе с процессором OpenRISC1200 показало высокое быстродействие и существенную экономию накладных расходов на дополнительные аппаратные ресурсы кристалла при использовании данного метода. <...> Keywords: automated instrumentation; embedded memory; fault injection; hardware reengineering; SEU Для современных микросхем одиночные сбои памяти являются одной из основных угроз работоспособности при воздействии излучения в космосе [1]. <...> В ходе синтеза используются известные методы: схемотехнически усиленные ячейки памяти, структурное резервирование, помехоустойчивое кодирование, периодическое просеивание массивов памяти, по О.В. Мамутова, О.В. Ненашев, А.С. Филиппов, 2015 50 Известия вузов. <...> ЭЛЕКТРОНИКА Том 20 № 1 2015 Оснащение систем на кристалле. вторное исполнение программ. <...> Внесение неисправностей позволяет выявить «узкие места» в надежности системы, классифицировать возникающие эффекты и проверять средства борьбы с неисправностями. <...> В настоящей работе представлен новый метод автоматизированного оснащения систем средствами внесения неисправностей типа «одиночный сбой» в блоки встроенной памяти. <...> Подход применим на этапе прототипирования систем с помощью программируемых логических интегральных схем (ПЛИС) и позволяет проводить верификацию надежности систем с памятью и процессорными ядрами. <...> Анализ существующих подходов при внесении <...>