Метрология, стандартизация и сертификация
← назад

Свободный доступ

Ограниченный доступ
Автор: Сергеев А. Г.
Логос: М.
Изложено основное содержание метрологии как науки. Показаны ее становление, роль в развитии науки, техники, производства и общества. Раскрыты основные понятия метрологии, положения Международной системы единиц, рассмотрены вопросы обеспечения единства измерений в стране, а также прогнозирования путем развития метрологии.
Для студентов высших учебных заведений, обучающихся по направлению «Стандартизация, сертификация и метрология» и специальности «Метрология и метрологическое обеспечение». Может представлять интерес для специалистов, использующих в своей деятельности средства и результаты измерений.
Предпросмотр: Метрология.pdf (0,2 Мб)
Предпросмотр: Метрология (1).pdf (0,1 Мб)
Автор: Сергеев А. Г.
Логос: М.
Изложены научно-технические, нормативно-методические и организационные основы сертификации продукции и услуг в соответствии с требованиями Федерального закона "О техническом регулировании". Особое внимание уделено вопросам оценки и подтверждения соответствия и роли сертификации в различных отраслях экономики страны. С целью гармонизации работ в области метрологии, стандартизации и сертификации подробно рассмотрены методология и практика сертификации за рубежом.
Предпросмотр: Сертификация .pdf (0,2 Мб)
Автор: Сергеев А. Г.
Логос: М.
Содержит основные сведения по метрологическому обеспечению наноиндустрии. Рассмотрены становление нанометрологии в XX-XXI вв. и концепции ее развития. Подробно изложены современные основы технического обеспечения нанометрологии. Освещены вопросы нестабильности, точности и неопределенности наноизмерений. Особое внимание уделено основным метрологическим операциям - поверке и калибровке. Материал по сканирующей зондовой микроскопии изложен на основе семи современных стандартов, введенных в 2008-2009 гг. Описаны организационные принципы нанометрологии, системы Гостехрегулирования через сеть региональных отделений вновь созданного Центра метрологического обеспечения нанотехнологий и отраслевых научно-исследовательских институтов. Приведен перечень вузов, работающих в сфере наноиндустрии, и указаны основные направления их исследований в данной области.
Предпросмотр: Нанометрология .pdf (0,2 Мб)
Автор: Ржевская С. В.
Логос: М.
На единой методической основе показана возможность реализации результатов научно-исследовательской работы путем разработки проекта стандарта. Все виды работ выполнены в соответствии с требованиями, установленными в нормативных документах. Представление методического материала отвечает ГОСТу 7.32-2001, что обеспечивает адаптацию обучающихся к существующим изменениям в оформлении, которые приняты в XXI веке в нормативно-технических документах. Разделы 1-7 пособия могут быть использованы для проведения практических занятий по дисциплине "Метрология, стандартизация и сертификация".
Предпросмотр: Управление качеством. Практикум. Учебное пособие .pdf (0,3 Мб)