Стандарты. Мера. Весы. Хронология

Представлено содержание нормативно-правовых документов, регулирующих обеспечение единства измерений в Российской Федерации. Раскрыты основные разделы законодательства, регламентирующего единство измерений в соответствии с положениями Федерального закона от 26 июня 2008 г. № 102-ФЗ «Об обеспечении единства измерений», включая положения Конституции и федеральных законов, указов Президента, постановлений Правительства, приказов федеральных органов исполнительной власти. Приведены комментарии по отдельным аспектам законодательства об обеспечении единства измерений и ответы на наиболее важные вопросы, возникающие в этой области. Издание предназначено для специалистов, работающих в области законодательной и прикладной метрологии, аспирантов, студентов, получающих высшее профессиональное образование по направлениям подготовки с углубленным изучением метрологии и стандартизации, а также специалистов метрологических служб.

Представлено содержание нормативно-правовых документов, регулирующих обеспечение единства измерений в Российской Федерации. Раскрыты основные разделы законодательства, регламентирующего единство измерений в соответствии с положениями Федерального закона от 26 июня 2008 г. № 102-ФЗ «Об обеспечении единства измерений», включая положения Конституции и федеральных законов, указов Президента, постановлений Правительства, приказов федеральных органов исполнительной власти. Приведены комментарии по отдельным аспектам законодательства об обеспечении единства измерений и ответы на наиболее важные вопросы, возникающие в этой области. Издание предназначено для специалистов, работающих в области законодательной и прикладной метрологии, аспирантов, студентов, получающих высшее профессиональное образование по направлениям подготовки с углубленным изучением метрологии и стандартизации, а также специалистов метрологических служб.

Содержит основные сведения по метрологическому обеспечению наноиндустрии. Рассмотрены становление нанометрологии в XX-XXI вв. и концепции ее развития. Подробно изложены современные основы технического обеспечения нанометрологии. Освещены вопросы нестабильности, точности и неопределенности наноизмерений. Особое внимание уделено основным метрологическим операциям - поверке и калибровке. Материал по сканирующей зондовой микроскопии изложен на основе семи современных стандартов, введенных в 2008-2009 гг. Описаны организационные принципы нанометрологии, системы Гостехрегулирования через сеть региональных отделений вновь созданного Центра метрологического обеспечения нанотехнологий и отраслевых научно-исследовательских институтов. Приведен перечень вузов, работающих в сфере наноиндустрии, и указаны основные направления их исследований в данной области.