ПРИМЕНЕНИЕ МЕТОДОВ СКАНИРУЮЩЕЙ ЭЛЕКТРОННОЙ МИКРОСКОПИИ И АТОМНО- ЭМИССИОННОЙ СПЕКТРОМЕТРИИ ТЛЕЮЩЕГО РАЗРЯДА ДЛЯ ОЦЕНКИ МОРФОЛОГИИ ПРИПОВЕРХНОСТНОЙ ОБЛАСТИ ОБРАЗЦОВ ПРОКАТА ЭЛЕКТРОТЕХНИЧЕСКОЙ СТАЛИ (600,00 руб.)

Первый автор	Лепилина
Авторы	Якубенко Е.В., Ильясов Р.Р., Орехова Ю.Н.
Страниц	7

ID	944111
Аннотация	Реферат. Рассмотрена возможность применения методов сканирующей электронной микроскопии и атомно- эмиссионной спектрометрии тлеющего разряда для комплексной оценки микроструктуры и послойного распределения элементов в образцах проката электротехнической стали после технологической обработки и нанесения электроизоляционного покрытия. Показана целесообразность применения сканирующей электронной микроскопии для визуальной оценки распределения элементов по глубине и определения морфологии частиц в зоне внутреннего окисления. Установлена согласованность результатов исследования, полученных методами сканирующей электронной микроскопии и спектрометрии тлеющего разряда, позволяющей применять атомно- эмиссионную спектрометрию тлеющего разряда для экспресс- анализа количества оксида кремния в зоне внутреннего окисления образцов после обезуглероживания, а также для количественной оценки компонентов покрытия.

ПРИМЕНЕНИЕ МЕТОДОВ СКАНИРУЮЩЕЙ ЭЛЕКТРОННОЙ МИКРОСКОПИИ И АТОМНО- ЭМИССИОННОЙ СПЕКТРОМЕТРИИ ТЛЕЮЩЕГО РАЗРЯДА ДЛЯ ОЦЕНКИ МОРФОЛОГИИ ПРИПОВЕРХНОСТНОЙ ОБЛАСТИ ОБРАЗЦОВ ПРОКАТА ЭЛЕКТРОТЕХНИЧЕСКОЙ СТАЛИ / М.Ю. Лепилина [и др.] // Металлы .— 2025 .— №2 .— С. 34-40 .— URL: https://rucont.ru/efd/944111 (дата обращения: 19.11.2025)