Физические основы современных методов исследования материалов (12285,00 руб.)

Стр.2

УДК 620.18(075) ББК 30.3я73 Р59 Рецензенты: Н. А. Хмырова, канд. физ.-мат. наук, доцент кафедры «Физика и химия» ОмГУПС; С. Н. Несов, канд. физ.-мат. наук, научный сотрудник ОНЦ СО РАН Рогачев, Е. А. Физические основы современных методов исследования материалов : учеб. пособие / Е. А. Рогачев ; Минобрнауки России, Ом. гос. техн. ун-т. – Омск : Изд-во ОмГТУ, 2021. – 1 CD-ROM (2,82 Мб). – Систем. требования: процессор с частотой 1,3 ГГц и выше ; 256 Мб RAM и более ; свободное место на жестком диске 300 Мб и более ; Windows XP и выше ; разрешение экрана 1024×768 и выше ; CD/DVD-ROM дисковод ; Adobe Acrobat Reader 5.0 и выше. – Загл. с титул. экрана. – ISBN 978-5-8149-3367-6. Рассмотрены физические процессы, законы и явления, лежащие в основе различных методов исследования материалов, таких как сканирующая зондовая микроскопия, растровая электронная микроскопия, ИК-спектроскопия, рентгеновская дифрактометрия и др. Представлен материал для самостоятельной работы в виде практических заданий. Учебное пособие предназначено для студентов бакалавриата, магистратуры и аспирантов, обучающихся по специальностям, связанным с проектированием оборудования и разработкой специальных технологий создания новых материалов. Редактор Т. А. Москвитина Компьютерная верстка Л. Ю. Бутаковой Для дизайна этикетки использованы материалы из открытых интернет-источников ––––––––––––––––––––––––––––––––––––––––––––––––––––––––––––––––––– Сводный темплан 2021 г. Подписано к использованию 29.10.21. Объем 2,82 Мб. 2 © ОмГТУ, 2021

Стр.2