В работе [1] рассмотрены общие концептуальные представления о восстанавливаемых системах, подверженных потоку мягких отказов, и подходы к функционально-логическому проектированию подобных систем; определен ряд вопросов, требующих отдельного исследования. <...> Один из таких вопросов — это изучение влияния на надежность блока, соответствующего автомату с памятью, ложных импульсов, возникающих при действии радиации, в комбинационных схемах и в триггерах автомата, а также обоснование требований к функциональной организации таких блоков со структурным резер34 ИНФОРМАЦИОННОУПРАВЛЯЮЩИЕ СИСТЕМЫ вированием и периодическим восстановлением экземпляров с мягким отказом. <...> Для обоснования наиболее целесообразного способа введения структурной избыточности проводится анализ распространения ложных сигналов, вызванных воздействием частиц высокой энергии на полупроводниковую структуру транзистора, по схеме автомата с резервированием и мажорированием. <...> В работах [2, 3] рассмотрены процессы возникновения мягких отказов под действием радиации в логических элементах и триггерах. <...> Установлена функциональная связь эффектов в полупроводниковых структурах транзисторов от попадания частиц высокой энергии с возникновением мягких отказов в цифровом устройстве. <...> Полученные зависимости [3] являются базой для установления функциональных зависимостей между потоком событий в виде ложных импульсов на выходе вентиля (логического элемента) и характеристиками потока мягких отказов в автомате. <...> Это выполнено в на№ 3, 2017 ИНФОРМАЦИОННО-УПРАВЛЯЮЩИЕ СИСТЕМЫ стоящей работе. <...> Полученные зависимости используются для сравнительного анализа вариантов структур автоматов со структурной избыточностью. <...> При этом в качестве определяющих для принятия решения <...>