Прикладная физика, 2017, № 2 ОБЩАЯ ФИЗИКА УДК 537.533 О специфике измерений параметров слаборассеивающих нанообъектов на плоских подложках С. И. Расмагин, Л. А. Апресян, В. И. Крыштоб В последние годы активно развиваются исследование наноразмерных объектов, представляющий собой группу атомов или супрамолекулярную структуру, для которых понятие диэлектрической проницаемости имеет весьма условный смысл и, как правило, требует уточнения, а иногда и отдельного анализа. <...> В настоящей работе проанализировано изменение интенсивности комбинационного рассеяния объектов, помещенных на плоскую подложку, и показаны некоторые ситуации, в которых рассеяние может изменяться более чем на порядок. <...> В частности, на идеальной металлической подложке область пучности стоячей световой волны, образованной при отражении, не распространяется на приповерхностный слой, в котором находится слой графена, за счет чего рамановское (комбинационное) рассеяние может уменьшиться более чем на порядок. <...> В случае прозрачных подложек рассматриваемый наноразмерный эффект может значительно проявиться при помещении рассеивателя в экспоненциально затухающую неоднородную волну в области полного внутреннего отражения, либо при использовании продольной по отношению к плоскости падения поляризации при зондировании волной, падающей на подложку под углом Брюстера. <...> Введение Оптическая спектроскопия нанообъектов представляет собой промежуточную область между атомно-молекулярной спектроскопией [1], связанной с определением элементного и химического состава анализируемых веществ, и спектроскопией макроскопических рассеивателей [2], таких как, например, дымы, аэрозоли или суспензии, когда требуется определить характеристики ансамблей макроскопических частиц. <...> Это может быть связано либо с соображениями удобства, как в случае стандартных измерений комбинационного рассеяния (КР), либо Расмагин Сергей Иофифович, научный сотрудник <...>