Поверка эталонных мер проводится дифракционным и фотометрическим методами на эталонных средствах измерений, разработанных в СНИИМе. <...> Основное преимущество для пользователя заключается в универсальности применения эталонной меры. <...> Меры изготовлены с качеством, не уступающим зарубежным аналогам, и аттестуются с высокой точностью. <...> В пакет предложений входит и локальная поверочная схема для СИ малых длин, которую сопровождает методика определения и исключения (или существенного уменьшения) систематических погрешностей при измерениях транспарентных (железоокисных — частично прозрачных) фотошаблонов. <...> Предложенный метод проверки дифракционного измерителя малых длин позволяет исключить (или существенно уменьшить) систематическую погрешность исходных и эталонных установок. <...> Кроме того, в СНИИМ был впервые создан и утвержден вторичный (рабочий) эталон единицы длины в диапазоне 0,001.0,200 мм ВЭТ2-25-91 в составе: — интерференционно-дифракционной установки ИДИ-200; — специализированного фотометрического микроскопа СФМ; — эталонных мер сравнения (ширина, периодическая и штриховая); — вторичного (рабочего) эталона-компаратора для измерений штриховых периодических мер. <...> Специальные меры малых длин внедрены на ряде предприятий нашей страны, среди которых НПО “Союз”, НПО “Восток”, “Изомер”, НИИМЭ, ПО НПЗ им. <...> Высокие метрологические характеристики эталонных измерительных средств, созданных в метрологических институтах Ростехрегулирования России, подтверждаются результатами международных сличений СИ в субмикронанометровом диапазоне. <...> В настоящее время в ОАО НПП “Эталон” восстановлена технология изготовления эталонных мер малой длины, а также ведется модернизация эталонного комплекса для их аттестации. <...> 36-84-00 УДК 681.586'36.389 К содержанию МЕТРОЛОГИЧЕСКОЕ ОБОРУДОВАНИЕ И СРЕДСТВА ПЕРЕДАЧИ ДЛЯ ПОВЕРКИ КОНТАКТНЫХ СРЕДСТВ ИЗМЕРЕНИЯ ТЕМПЕРАТУРЫ В ДИАПАЗОНЕ ОТ –190 ДО +1600 °C Ю. О. Малышев Представлено <...>