В порядке обсуждения УДК 621.3.038:62-192 К ПРОБЛЕМЕ РЕТРОСПЕКТИВНОГО АНАЛИЗА НАДЕЖНОСТИ ЭЛЕКТРОННОЙ АППАРАТУРЫ С. В. <...> Васьковский, В. П. Морозов Исследованы причины одного вида параметрических отказов в источнике питания небольших автоматических телефонных станций за время длительной непрерывной работы. <...> Надежность электронной аппаратуры всегда находилась и находится в центре внимания разработчиков. <...> На этапе проектирования расчеты надежности любых устройств базируются на данных об интенсивности отказов входящих в них элементов, определяемой обычно по результатам ускоренных испытаний. <...> Что же касается длительных испытаний, то в электронике они требуют особенно больших затрат ввиду колоссальной номенклатуры изделий и потому для большинства элементов, как правило, не проводятся. <...> Редкое исключение составляют, пожалуй, многолетние испытания на срок службы микросхем TTL логики [1]. <...> Но в связи с быстрым обновлением элементной базы результаты длительных испытаний трудно использовать в проектировании, поскольку к моменту их окончания технологии изготовления существенно меняются. <...> Кроме того, надежность элементов в составе аппаратуры может существенно отличаться от таковой при испытаниях ввиду взаимовлияний отказов множества элементов и непредсказуемого сочетания внешних воздействий. <...> Поэтому для разработчиков может представить интерес ретроспективный анализ видов и интенсивности отказов отдельных узлов сложной электронной аппаратуры при ее длительной эксплуатации как целого [2]. <...> Удобным объектом такого анализа служит телекоммуникационное оборудование, для которого характерны комплексный состав, непрерывное функционирование, а также повышенные требования к надежности и сроку службы. <...> В частности, широкие возможности для сбора данных об отказах дают непрерывно эксплуатируемые в течение многих лет учрежденческие автоматические телефонные станции (УАТС), поскольку они <...>