Национальный цифровой ресурс Руконт - межотраслевая электронная библиотека (ЭБС) на базе технологии Контекстум (всего произведений: 634794)
Контекстум
Руконтекст антиплагиат система
Датчики и системы. Sensors & Systems  / №11 (186) 2014

ИЗМЕРЕНИЕ S-ПАРАМЕТРОВ ЭЛЕКТРОННЫХ КОМПОНЕНТОВ В ПОЛОСКОВЫХ ЛИНИЯХ ПЕРЕДАЧИ (150,00 руб.)

0   0
Первый авторКрылов
АвторыЛавричев О.В., Никулин С.М.
Страниц8
ID598724
АннотацияРассмотрены задачи, возникающие при измерении S-параметров микроэлектронных компонентов: определение параметров полосковой линии передачи, идентификация моделей полосковых калибровочных мер методом частотного окна и исключение влияния контактных устройств на результаты измерений в стандартном коаксиальном канале. Эффективность восстановления S-параметров электронных компонентов в широком диапазоне частот с помощью известных методов SOM, SOMT и TRL, используемых в практике СВЧ-измерений, сравнивается на примере чип-резистора.
УДК621.317
Крылов, А.А. ИЗМЕРЕНИЕ S-ПАРАМЕТРОВ ЭЛЕКТРОННЫХ КОМПОНЕНТОВ В ПОЛОСКОВЫХ ЛИНИЯХ ПЕРЕДАЧИ / А.А. Крылов, О.В. Лавричев, С.М. Никулин // Датчики и системы. Sensors & Systems .— 2014 .— №11 (186) .— С. 36-43 .— URL: https://rucont.ru/efd/598724 (дата обращения: 26.04.2024)

Предпросмотр (выдержки из произведения)

Его практическая реализация намного проще метода Х-параметров, разработанного компанией Agilent, и технически существенно дешевле. <...> В качестве объектов измерений был использован линейный полосовой фильтр и усилитель с весьма малым обратным коэффициентом передачи с тем, чтобы показать реальные возможности и перспективы использования предложенного метода измерений нелинейных цепей в инженерной практике. <...> Метод ориентирован на измерения S-параметров СВЧ-транзисторов, где не требуется очень точных результатов по динамическому диапазону восстанавливаемых параметров. <...> Авторы предполагают применить этот метод к задаче измерения S-параметров СВЧ-транзистора в полосковых линиях передачи с разным волновым сопротивлением на входе и выходе и определять искомые величины на физических границах прибора, исключив из результатов устройство подключения в стандартный коаксиальный тракт. <...> Измерение S22 в “горячем” режиме с импульсными сигналами на анализаторе цепей R & S®ZVA. <...> Х-параметры: Новый принцип измерений, моделирования и разработки нелинейных ВЧ и СВЧ компонентов / Контрольно-измерительные приборы и системы, компания Agilent Technologies. <...> Руководство пользователя к векторному анализатору цепей Rohde & Schwarz ZVA. <...> Сергей Михайлович Никулин — д-р техн. наук, профессор Нижегородского Государственного Технического Университета им. <...> Крылов, О. В. Лавричев, С. М. Никулин Рассмотрены задачи, возникающие при измерении S-параметров микроэлектронных компонентов: определение параметров полосковой линии передачи, идентификация моделей полосковых калибровочных мер методом частотного окна и исключение влияния контактных устройств на результаты измерений в стандартном коаксиальном канале. <...> Эффективность восстановления S-параметров электронных компонентов в широком диапазоне частот с помощью известных методов SOM, SOMT и TRL, используемых в практике СВЧ-измерений, сравнивается на примере чип-резистора. <...> Ключевые слова: полосковая <...>

Облако ключевых слов *


* - вычисляется автоматически
Антиплагиат система на базе ИИ