Национальный цифровой ресурс Руконт - межотраслевая электронная библиотека (ЭБС) на базе технологии Контекстум (всего произведений: 634794)
Контекстум
.
Приборы и техника эксперимента  / №1 2017

УСТРОЙСТВО РАЗДЕЛЕНИЯ ПАДАЮЩИХ И ОТРАЖЕННЫХ ИМПУЛЬСНЫХ СИГНАЛОВ НАНО- И ПИКОСЕКУНДНОЙ ДЛИТЕЛЬНОСТИ (200,00 руб.)

0   0
Первый авторФедоров
АвторыДроботун Н.Б., Михеев Ф.А., Малютин Н.Д.
Страниц4
ID593190
АннотацияРассмотрено устройство, предназначенное для разделения падающих и отраженных от произвольной нагрузки импульсных сигналов на основе двойного направленного сверхширокополосного моста. Приведены экспериментальные результаты исследования устройства с помощью электрических импульсов пикосекундной (40 пс) и наносекундной (10 нс) длительности. Тестовый импульс, подающийся на входной порт, поступает на исследуемый объект с ослаблением 5 дБ. Устройство разделяет образующиеся падающий и отраженный импульсы, которые поступают на разные порты. Развязка между портами падающих и отраженных импульсов составляет не менее 20 дБ в диапазоне рабочих частот от 300 кГц до 16 ГГц
УДК621.3
УСТРОЙСТВО РАЗДЕЛЕНИЯ ПАДАЮЩИХ И ОТРАЖЕННЫХ ИМПУЛЬСНЫХ СИГНАЛОВ НАНО- И ПИКОСЕКУНДНОЙ ДЛИТЕЛЬНОСТИ / В.Н. Федоров [и др.] // Приборы и техника эксперимента .— 2017 .— №1 .— С. 66-69 .— URL: https://rucont.ru/efd/593190 (дата обращения: 25.04.2024)

Предпросмотр (выдержки из произведения)

64–67 ЭЛЕКТРОНИКА И РАДИОТЕХНИКА УДК 621.3 УСТРОЙСТВО РАЗДЕЛЕНИЯ ПАДАЮЩИХ И ОТРАЖЕННЫХ ИМПУЛЬСНЫХ СИГНАЛОВ НАНОИ ПИКОСЕКУНДНОЙ ДЛИТЕЛЬНОСТИ © 2017 г. В. Н. Федоров, Н. Б. Дроботун, Ф. А. Михеев, Н. Д. Малютин* Томский государственный университет систем управления и радиоэлектроники Россия, 634050, Томск, просп. <...> Ленина, 40 *e-mail: ndm@main.tusur.ru Поступила в редакцию 03.01.2016 г. Рассмотрено устройство, предназначенное для разделения падающих и отраженных от произвольной нагрузки импульсных сигналов на основе двойного направленного сверхширокополосного моста. <...> Приведены экспериментальные результаты исследования устройства с помощью электрических импульсов пикосекундной (40 пс) и наносекундной (10 нс) длительности. <...> Тестовый импульс, подающийся на входной порт, поступает на исследуемый объект с ослаблением 5 дБ. <...> Устройство разделяет образующиеся падающий и отраженный импульсы, которые поступают на разные порты. <...> Развязка между портами падающих и отраженных импульсов составляет не менее 20 дБ в диапазоне рабочих частот от 300 кГц до 16 ГГц. <...> DOI: 10.7868/S0032816217010013 ВВЕДЕНИЕ Исследование физических объектов с помощью электрических пико- и наносекундных импульсов методом рефлектометрии [1, 2] дает возможность получать и анализировать отраженные сигналы, приходящие от тестируемой нагрузки на вход прибора. <...> При этом падающие и отраженные импульсы отображаются на одной и той же рефлектограмме, что при многократных отражениях создает определенные трудности их обработки с целью определения параметров исследуемого объекта. <...> Для выделения коротких падающих и отраженных импульсов со спектром частот от единиц мегагерц до десятков гигагерц можно использовать направленные ответвители на связанных линиях [3]. <...> Такие направленные ответвители имеют ограничение полосы снизу, поэтому для исследования с помощью импульсов с низкочастотными составляющими от десятков килогерц и полосой частот, простирающейся до десятков гигагерц, целесообразно <...>