МАТЕРИАЛОВЕДЕНИЕ УДК 54.063, 54.07 Применение сканирующей электронной микроскопии, сфокусированного ионного пучка и рентгеновского спектрального микроанализа для решения задач прикладного материаловедения (обзор) В. В. Мокрушин, И. А. Царева, М. В. Царев, Е. В. Забавин, Р. М. Баикин Введение Прикладное1 материаловедение в науке, технике и технологии относится к разряду диагностических исследований в том смысле, что оно призвано изучать свойства материалов с целью выяснения причин и особенностей их поведения в различных ситуациях, связанных с функциональным назначением. <...> Роль современных средств и методов диагностики материалов, к которым в полной мере относится комплекс электронной микроскопии и анализа, в нашем случае со1* Сборник тезисов докладов XXIV конференции по электронной микроскопии (29 мая – 1 июня 2012 г.). <...> 622 Рассмотрены некоторые примеры решения задач прикладного материаловедения с использованием методов электронной микроскопии, фокусированного ионного пучка и рентгеновского спектрального микроанализа. <...> Среди них исследование сплошности покрытий и однородности порошковых смесевых композиций на основе фрактальных представлений о структуре и химическом составе, контроль качества сварных соединений, калибровка размеров микрообъектов и изучение состояния микрокристаллов -октогена после ударно-волновых и динамических воздействий. <...> Показано, что современная электронная микроскопия, дополненная аналитическими опциями и средствами модификации поверхности, является весьма эффективным, а иногда и единственным надежным инструментом в прикладном материаловедении. <...> ПРИМЕНЕНИЕ СКАНИРУЮЩЕЙ ЭЛЕКТРОННОЙ МИКРОСКОПИИ… четающий в себе функции сканирующей электронной микроскопии (ЭМ), фокусированного ионного пучка (ФИП) и рентгеновского спектрального микроанализа (РСМА), переоценить невозможно, так как именно химический состав и структура, доступные к исследованию с их помощью, определяют <...>