Электроника, измерительная и радиотехника УДК 621.317.3 А. В. Светлов, М. Ю. Паршуков, Е. В. Сапунов, В. В. Комаров МЕТОДИКА ИЗМЕРЕНИЯ ЧАСТОТЫ ЕДИНИЧНОГО УСИЛЕНИЯ ОПЕРАЦИОННЫХ УСИЛИТЕЛЕЙ Аннотация. <...> Рассмотрена актуальная задача разработки методики автоматизированного измерения частоты единичного усиления операционных усилителей, использование которой будет способствовать организации массового входного контроля микросхем на предприятиях приборостроения. <...> Предложена методика автоматизированного измерения частоты единичного усиления операционных усилителей, отличающаяся тем, что частота тестового сигнала, подаваемого на исследуемый операционный усилитель для оценки его коэффициента усиления, изменяется не плавно, а дискретно, начиная с минимально допустимого значения частоты единичного усиления, с последующим удвоением частоты, а затем итерационным сужением диапазона поиска частоты, при которой коэффициент усиления операционного усилителя становится меньше единицы при заданном разрешении по частоте. <...> Отличительной особенностью рассмотренной методики является возможность выполнения всех ее этапов в автоматизированном режиме, для чего разработаны алгоритм управления процессом измерения и его программная реализация в среде LabVIEW. <...> Выполняемые в соответствии с данной методикой операции контроля операционных усилителей отличаются высокой производительностью и могут быть рекомендованы для организации 100 % входного контроля микросхем на предприятиях приборостроения. <...> Работоспособность и высокая эффективность разработанных методики, алгоритмов и программ подтверждаются их использованием при построении многофункционального аппаратнопрограммного комплекса для измерения параметров ОУ. <...> Komarov METHOD OF MEASURING UNITY GAIN FREQUENCY OF OPERATIONAL AMPLIFIERS Abstract. <...> The authors considered a topical problem of developing methods of automatic measurement of the unity gain frequency of operational amplifiers, the use of which will contribute to the organization of chip mass incoming inspection at instrument engineering enterprises <...>