Национальный цифровой ресурс Руконт - межотраслевая электронная библиотека (ЭБС) на базе технологии Контекстум (всего произведений: 634942)
Контекстум
Руконтекст антиплагиат система
Электросвязь  / №10 2016

АВТОМАТИЗИРОВАННАЯ ИЗМЕРИТЕЛЬНАЯ СИСТЕМА ДЛЯ ИСПЫТАНИЙ ИНТЕГРАЛЬНЫХ МИКРОСХЕМ ПРЕОБРАЗОВАТЕЛЕЙ НАПРЯЖЕНИЯ (250,00 руб.)

0   0
Первый авторГубкина
Страниц4
ID546441
АннотацияПредложена методика проведения испытаний, обеспечивающая оптимальный выбор контролируемых параметров, необходимых для выявления скрытых дефектов разрабатываемого устройства. При помощи автоматизированного измерительного комплекса проведены испытания интегральной микросхемы преобразователя напряжения. Данный метод позволяет сохранить высокий процент выхода годной продукции при уменьшении топологических размеров и повышении сложности изделий, а также существенно сэкономить время на запуск их в производство за счет предварительной отладки и оптимизации технологических процессов и конструкции
УДК681.5.08
Губкина, В.Р. АВТОМАТИЗИРОВАННАЯ ИЗМЕРИТЕЛЬНАЯ СИСТЕМА ДЛЯ ИСПЫТАНИЙ ИНТЕГРАЛЬНЫХ МИКРОСХЕМ ПРЕОБРАЗОВАТЕЛЕЙ НАПРЯЖЕНИЯ / В.Р. Губкина // Электросвязь .— 2016 .— №10 .— С. 20-23 .— URL: https://rucont.ru/efd/546441 (дата обращения: 02.05.2024)

Предпросмотр (выдержки из произведения)

ИМПОРТОЗАМЕЩЕНИЕ Автоматизированная измерительная система для испытаний интегральных микросхем преобразователей напряжения В.Р. Губкина, аспирант кафедры «Системы автоматизированного производства» СибГУТИ; vg@sibsutis.ru А.В. Глухов, доцент кафедры «Системы автоматизированного производства» СибГУТИ, к.т.н. <...> Предложена методика проведения испытаний, обеспечивающая оптимальный выбор контролируемых параметров, необходимых для выявления скрытых дефектов разрабатываемого устройства. <...> При помощи автоматизированного измерительного комплекса проведены испытания интегральной микросхемы преобразователя напряжения. <...> Данный метод позволяет сохранить высокий процент выхода годной продукции при уменьшении топологических размеров и повышении сложности изделий, а также существенно сэкономить время на запуск их в производство за счет предварительной отладки и оптимизации технологических процессов и конструкции. <...> ВВЕДЕНИЕ Интегральные микросхемы (ИМС) содержат большое количество элементов, а соответственно и множество параметров и критериев, из-за чего контроль качества выходного изделия является трудоемкой и дорогостоящей задачей. <...> Говоря о качестве и надежности устройства, следует учитывать контроль качества не только на выходе готового изделия, но и в целом объем испытаний, которому оно подвергается в процессе изготовления. <...> Существуют основные электрические параметры, измерение которых является стандартным для готового устройства. <...> Как показывает практика, зачастую недостаточно ограничиться измерением только данных параметров, так как высокая жизнеспособность прибора, заложенная в конструкции, приведет к тому, что он будет сохранять свою работоспособность при возникающих неисправностях. <...> Поэтому для повышения надежности разрабатываемого устройства количество контролируемых параметров при производстве ИМС увеличено. <...> ПОСТАНОВКА ЗАДАЧИ Важным этапом проведения испытаний является <...>