Проведены измерения спектров GcK EXAFS (Extended X-Ray Absorption Fine Structure) для многослойных полупроводниковых гстсросистсм SiGe, содержащих группы взаимодействующих квантовых точек ("молекулы из квантовых точек"), упорядоченных в кольца, на различных этапах их роста в зависимости от их топологических параметров и условий роста! <...>