В.Н. Бориков, П.Ф. Баранов, Э.И. Цимбалист, В.Л. Ким «Устройство для испытаний и поверки индуктивных делителей напряжения» рактер дефектов (трещины, дефекты плавки и другие дефекты в материале обследуемого объекта). <...> Возникающая волна напряжений, проходя по объекту, изменяет акустические характеристики при наличии дефектов. <...> При повторных обследованиях может быть дан прогноз развития дефектов. <...> В специализированном ПО реализованы возможности: • отображения сигнала в произвольном масштабе; • определения спектра сигнала; • определения функции взаимной корреляции; УДК 621.317.7.089.6 В.Н. Бориков, П.Ф. Баранов, Э.И. Цимбалист, В.Л. Ким (Национальный исследовательский Томский политехнический университет, Томск) E-mail: borikov@tpu.ru УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИСПЫТАНИЙ И ПОВЕРКИ ИНДУКТИВНЫХ ДЕЛИТЕЛЕЙ НАПРЯЖЕНИЯ Представлены результаты разработки устройства сравнения двух напряжений переменного тока одной частоты для испытаний и поверки индуктивных делителей напряжения переменного тока. <...> The paper presents the results of development of instrument for comparison two AC voltage of single frequency for testing and verification inductive voltage dividers Ключевые слова: индуктивный делитель напряжения, синхронный усилитель, дифференциальный метод, среда графического программирования LabVIEW. <...> Keywords: inductive voltage divider, Lock-In Amplifier, differential method, graphical programming environment LabVIEW. <...> В области электро- и радиоизмерений уменьшение размера осуществляется типовыми устройствами – масштабными измерительными преобразователями, в частности, для напряжения – индуктивными делителями напряжения переменного тока [1]. <...> Основной метрологической характеристикой любого масштабного измерительного преобразователя напряжения переменного тока является коэффициент передачи на заданной частоте. <...> Для определения погрешностей коэффициента передачи масштабного измерительного преобразователя наибольшее применение из экспериментальных методов нашел метод сравнения поверяемого преобразователя с эталонным (рис. <...> В качестве устройства <...>