Композиты и наноструктуры COMPOSITES and NANOSTRUCTURES Том 8 (Volume 8) ¹ 1 2016 LOW TEMPERATURE THERMAL EXFOLIATION OF GRAPHITE OXIDE UNDER NORMAL PRESSURE TO SYNTHESIZE FEW LAYERED GRAPHENE H.L. Gajera1 and L.M. Manocha2* 1Department of Physical Sciences, Charutar University of Science & Technology, Changa, Gujarat, India 2 Anand, Dr. Raja Ramanna DRDO Distinguished Fellow, DMSRDE, G.T.Road, Kanpur, India *E-mail: lalitmanocha@gmail.com The present research work elucidates a simple method for large scale production of few layered Graphene by low temperature thermal exfoliation at 230o C under normal atmospheric pressure. <...> Exfoliation occurs due to pressure generated from decomposition of oxygen functional groups, good enough to exfoliate Graphene sheets from graphite oxide. <...> XRD of exfoliated material (EG230) showed disappearance of characteristic graphite peak confirming complete exfoliation of graphite oxide to graphene sheet. <...> These were further characterized by SEM, TEM, Raman spectroscopy and for surface area measurement by BET method. <...> The TEM and SAED results exhibited presence of few layered Graphene in the exfoliated graphite oxide. <...> The graphene so prepared exhibited higher specific surface area (about 1280m2 /gm) as compared to that of as such graphite oxide (about 220 m2 /gm). <...> Keywords: Low temperature exfoliation, Graphite oxide, Graphene and Characterization СИНТЕЗ ГРАФЕНА, СОСТОЯЩЕГО ИЗ НЕСКОЛЬКИХ СЛО¨В, ПУТ¨М НИЗКОТЕМПЕРАТУРНОГО РАССЛОЕНИЯ ОКСИДА ГРАФИТА ПРИ НОРМАЛЬНОМ ДАВЛЕНИИ (Поступила в редакцию 20.11.2015, принята в печать 23.11.2015) В работе изложен простой метод объ¸много производства графена, состоящего из нескольких сло¸в, пут¸м термического расслоения оксида графита при температуре 230оС и нормальном давлении. <...> Расслоение возникает под действием давления, генерируемого в результате разложения оксидных функциональных групп, величина которого оказывается достаточной для отслоения графеновых сло¸в от оксида графита. <...> Полученный материал охарактеризовали также методами сканирующей (SEM) и просвечивающей (TEM) электронной микроскопии, рамановской спектроскопией, а также BET измерениями поверхности. <...> Результаты, полученные ТЕМ и <...>