Рынок уровнях изменение структуры материалов под влиянием каких-либо факторов. <...> Это комплексное использование различных методов исследований, то есть совместное применение компьютерной томографии, электронной микроскопии, дифрактометрии, рентгено-флуоресцентного анализа и других. <...> Я считаю, что такие подходы имеют очень большую перспективу, именно с точки зрения максимально полного изучения того или иного процесса или явления». <...> Е. О. Стаценко, КФУ: «В первую очередь хотелось бы поблагодарить организаторов за предоставленную возможность выступить на такой конференции. <...> В этом году конференция значительно расширилась, что видно по количеству участников. <...> Мне, как одному из операторов томографов, это наиболее интересно с практической точки зрения». <...> М. И. Сон, АО «КЭМЗ»: «По поводу организации считаю, что орУличные шатры для перерывов стихийно стали еще одним местом обсуждений важных вопросов Отзывы участников А. С. Лаптев, ФГУП ВИАМ: «В первой части конференции, которая проводилась в Москве, нам очень понравился ряд докладов. <...> Хотелось бы еще больше гостей из-за рубежа, именно производителей данных систем, программного обеспечения, а особенно тех специалистов, которые работают там на производстве. <...> Также хотелось, чтобы потребители продолжали делиться своей информацией: где и каким образом они применяют системы контроля, особенно в научно-исследовательских работах. <...> А такие мероприятия с демонстрацией — просто здорово и весьма полезно. <...> Е. С. Прусов, ВлГУ: «Если сравнивать с предыдущими конференциями, число участников продолжает расти. <...> Не в последнюю очередь это связано с тем, что в текущем году расширена тематика конференции. <...> Она охватывает не только сферу компьютерной томографии, но и другие актуальные направления контроля качества и современные методы. <...> И конечно, были представлены последние результаты, которые отражают современное состояние работы по этим направлениям. <...> В отношении работы <...>