Национальный цифровой ресурс Руконт - межотраслевая электронная библиотека (ЭБС) на базе технологии Контекстум (всего произведений: 634938)
Контекстум
Руконтекст антиплагиат система
Прикладная физика  / №1 2011

Влияние γ-облучения на электрофизические параметры светодиодов на основе InGaN/GaN (10,00 руб.)

0   0
Первый авторГрушко
АвторыСолонин А.П.
Страниц4
ID445896
АннотацияПроведено исследование светодиодов InGaN/AlGaN/GaN на стандартной подложке SiC [КРТ-1608 РВС (SMD)] с двумя квантовыми ямами и активным слоем InxGa1-хN с х = 0,21. Установлено влияние у-облучения на концентрационный профиль мелкой примеси и концентрацию глубоких уровней. Определены величина компенсированной области и градиента концентрации. Выявлена возможность увеличения КПД светодиода и его яркости
УДК621.315.592
Грушко, Н.С. Влияние γ-облучения на электрофизические параметры светодиодов на основе InGaN/GaN / Н.С. Грушко, А.П. Солонин // Прикладная физика .— 2011 .— №1 .— С. 88-91 .— URL: https://rucont.ru/efd/445896 (дата обращения: 02.05.2024)

Предпросмотр (выдержки из произведения)

Influence of -irradiations on electrophysical parametres of the InGaN/GaN light-emitting diodes N. S. Grushko, A. P. Solonin Ulyanovsk State University, 42 Lev Tolstoy str., Ulyanovsk, 432000, Russia E-mail: hatabovich@mail.ru The InGaN/AlGaN/GaN LEDs were investigated after -irradiation. <...> The influence is established on a concentration profile of a fine impurity and concentration of deep levels. <...> The size of the compensated area and a gradient of concentration are determined. <...> Проведено исследование светодиодов InGaN/AlGaN/GaN на стандартной подложке SiC [КРТ-1608 РВС (SMD)] с двумя квантовыми ямами и активным слоем InxGa1-хN с х = 0,21. <...> Установлено влияние у-облучения на концентрационный профиль мелкой примеси и концентрацию глубоких уровней. <...>