УДК 546.26.162 Н.С. Саенко, А.М. Зиатдинов ОЦЕНКА РАЗМЕРОВ НАНОЧАСТИЦ ГРАФИТА – СТРУКТУРНЫХ БЛОКОВ АКТИВИРОВАННЫХ УГЛЕРОДНЫХ ВОЛОКОН, ПУТЕМ МОДЕЛИРОВАНИЯ ПРОФИЛЯ РЕНТГЕНОВСКОЙ ДИФРАКЦИИ (Институт химии ДВО РАН) e-mail: saenko@ich.dvo.ru Размеры нанографитов – структурных блоков активированных углеродных волокон (АУВ) оценены без использования формулы Шеррера, путем компьютерного моделирования экспериментального профиля рентгеновской дифракции с помощью кривых рентгеновского рассеяния модельных нанографитов. <...> Расчет кривых рентгеновского рассеяния модельных нанографитов был выполнен в терминах теории Уоррена Боденштейна с учетом зависимости межатомных расстояний в нанографене от его размера. <...> Приведены также данные исследований мотивов строения АУВ методами малоуглового рентгеновского и комбинационного рассеяний. <...> Ключевые слова: активированные углеродные волокна, нанографит, нанографен, рентгеновская дифракция, спектроскопия комбинационного рассеяния, малоугловое рентгеновское рассеяние ВВЕДЕНИЕ На многих объектах показано, что переход от их макроскопических к нанометрическим размерам приводит к качественным изменениям физико-химических свойств как отдельных соединений, так и систем наночастиц [1–3]. <...> В частности, это связано с тем, что при переходе к наноразмерным частицам существенно изменяется соотношение между количеством объемных и поверхностных атомов объекта. <...> В результате, из-за сильного влияния поверхностных атомов электронное строение наноразмерной частицы и определяемые им эластические, тепловые, оптические, магнитные и другие свойства могут существенно отличаться от соответствующих характеристик ее объемного аналога. <...> Для оценки размеров наночастиц, наряду с техникой получения прямого изображения, например с помощью различных модификаций метода электронной микроскопии, широко используют и метод рентгеновской дифракции. <...> Одним из перспективных способов оценки средних <...>