Национальный цифровой ресурс Руконт - межотраслевая электронная библиотека (ЭБС) на базе технологии Контекстум (всего произведений: 634938)
Контекстум
Руконтекст антиплагиат система
Системы анализа и обработки данных  / №4 2014

Бесконтактный интерферометрический измеритель вибраций на основе волоконной оптики (150,00 руб.)

0   0
Первый авторГлебус
АвторыМакаров С.Н., Чугуй Ю.В.
Страниц10
ID411025
АннотацияПредставлены результаты работ по возможности создания измерителя вибраций на современной элементной базе. Описывается интерферометрический метод определения смещения поверхности для случаев фиксированного направления движения объекта. Основой метода является использование интерферометрической схемы, чувствительной к расстоянию до объекта, на основе интерферометра Майкельсона. Приводится квадратурный интерферометрический сигнал, получаемый при помощи модуляции тока накачки лазера и последующей фильтрацией сигнала, получаемого на фотоприемнике. Рассмотрен случай использования квадратурного сигнала при тональных вибрациях объекта. В результате проведения измерений и обработки полученных данных восстановлены сигналы смещения поверхности исследуемого объекта для режима вибраций с заданной частотой и амплитудой. Частота колебаний поверхности соответствует частоте сигнала генератора (30 Гц), амплитуда в исследуемой точке оказалась равной 4 ± 0,05 мкм. В режиме отсутствия подачи сигнала на объект определена амплитуда случайных смещений, которая составила 0,3 мкм. Выявлено, что макет измерителя вибраций на основе оптоволоконных компонент может регистрировать квадратурный интерферометрический сигнал и восстанавливать смещение поверхности вибрирующих объектов. Сделан вывод о перспективности дальнейшего исследования макета, улучшения его точностных характеристик и доведения до экспериментального образца.
УДК53.082.54
Глебус, И.С. Бесконтактный интерферометрический измеритель вибраций на основе волоконной оптики / И.С. Глебус, С.Н. Макаров, Ю.В. Чугуй // Системы анализа и обработки данных .— 2014 .— №4 .— С. 43-52 .— URL: https://rucont.ru/efd/411025 (дата обращения: 01.05.2024)

Предпросмотр (выдержки из произведения)

49–58 ОБРАБОТКА ИНФОРМАЦИИ УДК 53.082.54 Бесконтактный интерферометрический измеритель вибраций на основе волоконной оптики* И. <...> Описывается интерферометрический метод определения смещения поверхности для случаев фиксированного направления движения объекта. <...> Основой метода является использование интерферометрической схемы, чувствительной к расстоянию до объекта, на основе интерферометра Майкельсона. <...> Приводится квадратурный интерферометрический сигнал, получаемый при помощи модуляции тока накачки лазера и последующей фильтрацией сигнала, получаемого на фотоприемнике. <...> Рассмотрен случай использования квадратурного сигнала при тональных вибрациях объекта. <...> В результате проведения измерений и обработки полученных данных восстановлены сигналы смещения поверхности исследуемого объекта для режима вибраций с заданной частотой и амплитудой. <...> Частота колебаний поверхности соответствует частоте сигнала генератора (30 Гц), амплитуда в исследуемой точке оказалась равной 4 ± 0,05 мкм. <...> В режиме отсутствия подачи сигнала на объект определена амплитуда случайных смещений, которая составила 0,3 мкм. <...> Выявлено, что макет измерителя вибраций на основе оптоволоконных компонент может регистрировать квадратурный интерферометрический сигнал и восстанавливать смещение поверхности вибрирующих объектов. <...> Ключевые слова: вибрация, измеритель вибраций, интерферометр Майкельсона, интерферометрический сигнал, модуляция тока накачки, квадратурный сигнал, диффузор, смещение поверхности DOI: 10.17212/1814-1196-2014-4-49-58 ВВЕДЕНИЕ Измерение и контроль вибраций необходимы во многих областях промышленности [1, 2]: в микроэлектронике, машиностроении, энергетике, авиастроении, на железнодорожном транспорте и т. д. <...> Для того чтобы удовлетворять основным современным требованиям измерений вибраций, устройства должны обеспечивать бесконтактный способ, высокое разрешение измерений смещения поверхности (10… <...> 100 нм), большое рабочее <...>

Облако ключевых слов *


* - вычисляется автоматически
Антиплагиат система на базе ИИ