Koster A.M., Flores R., Geudtner G., Goursot A., Heine T., Reveles J.U., Vela A., Salahub D.R. deMon 2003, The National Research Council, Ottawa, Canada. 7. <...> С использованием квантово-химического метода функционала электронной плотности в приближении сильной связи проведено молекулярно-динамическое моделирование образования точечных дефектов в графене и ультратонких пленках графита. <...>