Национальный цифровой ресурс Руконт - межотраслевая электронная библиотека (ЭБС) на базе технологии Контекстум (всего произведений: 582259)
Консорциум Контекстум Информационная технология сбора цифрового контента
Уважаемые СТУДЕНТЫ и СОТРУДНИКИ ВУЗов, использующие нашу ЭБС. Рекомендуем использовать новую версию сайта.
Информационно-управляющие системы  / №3 2016

АНАЛИЗ ПРОЦЕССОВ В КОНЕЧНОМ ПРИ ВОЗДЕЙСТВИИ РАДИАЦИИ. ОЦЕНКА ВЕРОЯТНОСТИ ИСКАЖЕНИЯ ИНФОРМАЦИИ (160,00 руб.)

0   0
Первый авторЕгоров
АвторыМелехин В.Ф.
Страниц10
ID384674
АннотацияПостановка проблемы: для решения вопросов функциональной организации цифровых устройств со структурной избыточностью, подверженных потоку информационных отказов, связанных с воздействием радиации, необходим анализ процессов, возникающих при действии частиц высокой энергии на интегральные схемы.
УДК681.3
Егоров, И.В. АНАЛИЗ ПРОЦЕССОВ В КОНЕЧНОМ ПРИ ВОЗДЕЙСТВИИ РАДИАЦИИ. ОЦЕНКА ВЕРОЯТНОСТИ ИСКАЖЕНИЯ ИНФОРМАЦИИ / И.В. Егоров, В.Ф. Мелехин // Информационно-управляющие системы .— 2016 .— №3 .— С. 26-35 .— URL: https://rucont.ru/efd/384674 (дата обращения: 19.05.2022)

Предпросмотр (выдержки из произведения)

ИНФОРМАЦИОННО-УПРАВЛЯЮЩИЕ СИСТЕМЫ УДК 681.3 doi:10.15217/issn1684-8853.2016.3.24 АНАЛИЗ ПРОЦЕССОВ В КОНЕЧНОМ АВТОМАТЕ ПРИ ВОЗДЕЙСТВИИ РАДИАЦИИ. <...> Егорова, аспирант В. Ф. Мелехина, доктор техн. наук, профессор аСанкт-Петербургский политехнический университет Петра Великого, Санкт-Петербург, РФ Постановка проблемы: для решения вопросов функциональной организации цифровых устройств со структурной избыточностью, подверженных потоку информационных отказов, связанных с воздействием радиации, необходим анализ процессов, возникающих при действии частиц высокой энергии на интегральные схемы. <...> Цель: установление функциональной связи характеристик случайного потока событий, заключающихся в попадании частиц высокой энергии в элементы интегральных схем, с характеристиками случайного потока отказов, заключающихся в искажении информации, хранящейся в памяти автомата. <...> Результаты: получены описания процессов, связанных с воздействием радиации на интегральные схемы, на трех уровнях представления: физических эффектов в полупроводниковых структурах транзисторов; электрических процессов в электронных схемах на транзисторах, возникновения и распространения сигналов в электронных схемах; искажения сигналов и информации в схемах устройств на уровне логических элементов. <...> Практическая значимость: полученные результаты позволяют проводить анализ влияния радиации на информационные процессы в цифровых устройствах. <...> На основании результатов данного анализа можно использовать эффективные способы введения структурной избыточности для повышения надежности системы. <...> КМОП-технология, радиационные эффекты, «мягкие» отказы, вероятностные характеристики, поток частиц высокой энергии, поток информационных отказов, физические процессы, электрические процессы, информационные процессы. <...> Один из таких вопросов — это исследование вариантов функциональной организации блоков, моделью которых является автомат с памятью <...>

Облако ключевых слов *


* - вычисляется автоматически