Национальный цифровой ресурс Руконт - межотраслевая электронная библиотека (ЭБС) на базе технологии Контекстум (всего произведений: 608419)
Контекстум
Вестник Московского университета. Серия 1. Математика. Механика  / №1 2015

О ПОЛНЫХ ТЕСТАХ ОТНОСИТЕЛЬНО ВЫТЕСНЯЮЩИХ НЕИСПРАВНОСТЕЙ ВХОДОВ СХЕМ (60,00 руб.)

0   0
Доступно в Google Play
Первый авторМорозов
Страниц5
60,00р
ID356441
АннотацияРассматриваются неисправности входов схем. при которых выходное значение неисправной схемы определяется только исправными входами. Показано, что функция Шеннона длины проверяющего теста для данных неисправностей равна 2n—log2n+O(log2log2n), а функция Шеннона длины диагностического теста асимптотически равна 2n.
УДК519.718
Морозов, Е.В. О ПОЛНЫХ ТЕСТАХ ОТНОСИТЕЛЬНО ВЫТЕСНЯЮЩИХ НЕИСПРАВНОСТЕЙ ВХОДОВ СХЕМ / Е.В. Морозов // Вестник Московского университета. Серия 1. Математика. Механика .— 2015 .— №1 .— С. 59-63 .— URL: https://rucont.ru/efd/356441 (дата обращения: 13.03.2025)

Предпросмотр (выдержки из произведения)

Показано, что функция Шеннона длины проверяющего теста для данных неисправностей равна 2n—log2n+O(log2log2n), а функция Шеннона длины диагностического теста асимптотически равна 2n.! <...>

Облако ключевых слов *

0,x2 2n i1 log2 n=0 x1 xj1 xjk xn yj+1 булевы функция отражающим важнейших шеннона
* - вычисляется автоматически