Национальный цифровой ресурс Руконт - межотраслевая электронная библиотека (ЭБС) на базе технологии Контекстум (всего произведений: 634942)
Контекстум
Руконтекст антиплагиат система
Инженерный журнал: наука и инновации  / №2 2015

Расчет дифракции отраженных электронов на монокристалле (100,00 руб.)

0   0
Первый авторБезбах
АвторыМясников Б.И., Радченко И.Н.
ИздательствоМ.: Изд-во МГТУ им. Н.Э. Баумана
Страниц7
ID316236
АннотацияВ статье приведены результаты применения математического моделирования для одного из основных методов исследования физико-химических свойств поверхности твердого тела ? дифракции электронов. Кратко изложены основы теории процесса дифракции микрочастиц, описан алгоритм расчета (в программе MathCAD) и приведено графическое представление полученных результатов. Рассматриваемая работа позволяет прогнозировать процессы дифракции отраженных электронов на поверхности монокристалла при задаваемых параметрах исследуемого процесса. Полученные результаты моделирования дифракционных процессов могут быть использованы в качестве наглядного иллюстративного материала при изучении электронографии.
УДК535.33
Безбах, И.Ж. Расчет дифракции отраженных электронов на монокристалле / И.Ж. Безбах, Б.И. Мясников, И.Н. Радченко // Инженерный журнал: наука и инновации .— 2015 .— №2 .— URL: https://rucont.ru/efd/316236 (дата обращения: 03.05.2024)

Предпросмотр (выдержки из произведения)

УДК 535.33 Расчет дифракции отраженных электронов на монокристалле © И. <...> А.В. Шубникова РАН НИЦ «Космическое материаловедение», Калуга, 248033, Россия 2МГТУ им. <...> Н.Э. Баумана, Калужский филиал, Калуга, 248000, Россия В статье приведены результаты применения математического моделирования для одного из основных методов исследования физико-химических свойств поверхности твердого тела дифракции электронов. <...> Кратко изложены основы теории процесса дифракции микрочастиц, описан алгоритм расчета (в программе MathCAD) и приведено графическое представление полученных результатов. <...> Рассматриваемая работа позволяет прогнозировать процессы дифракции отраженных электронов на поверхности монокристалла при задаваемых параметрах исследуемого процесса. <...> Полученные результаты моделирования дифракционных процессов могут быть использованы в качестве наглядного иллюстративного материала при изучении электронографии. <...> В конце прошлого века произошел резкий скачок методического уровня проведения исследований локального состава, структуры и физико-химических свойств поверхности твердого тела [1, 2]. <...> С появлением и развитием техники сверхвысокого вакуума появилась возможность для реального развития таких методов исследования поверхности, как дифракция медленных электронов и полевая эмиссия [2−4]. <...> Стало ясно, что именно успехи в изучении автоэлектронной эмиссии, дифракции электронов, в совершенствовании техники сверхвысокого вакуума и детектирования малых сигналов (наряду с открытием эффекта Оже), а также рентген электронной эмиссии привели к созданию принципиально новых методов исследования поверхности твердых тел [5, 6]. <...> Их разнообразие и быстрое развитие требуют привлечения новых методик обработки и интерпретации получаемых экспериментальных данных. <...> Применение современных алгоритмов программирования с использованием пакетов программ математического моделирования (MathCAD, MATLAB и др.) позволяет эффективно <...>