Национальный цифровой ресурс Руконт - межотраслевая электронная библиотека (ЭБС) на базе технологии Контекстум (всего произведений: 634620)
Контекстум
.
Известия высших учебных заведений. Поволжский регион. Физико-математические науки  / №3 2009

Влияние облучения гамма-квантами на свойства p-n-переходов на основе GaAs (90,00 руб.)

0   0
Первый авторБулярский
АвторыЕрмаков М.С.
ИздательствоМ.: ПРОМЕДИА
Страниц5
ID269834
АннотацияПри облучении образцов на основе GaAs гамма-квантами с энергией 1, 25 МэВ было выявлено, что в образцах с дозой 0, 3 Мрад, происходит уменьшение количества дефектов. Для анализа экспериментальных данных применялась такая физическая величина, как приведенная скорость рекомбинации, которая обратна к времени жизни носителей заряда.
УДК621.315.592
ББК31.233
Булярский, С.В. Влияние облучения гамма-квантами на свойства p-n-переходов на основе GaAs / С.В. Булярский, М.С. Ермаков // Известия высших учебных заведений. Поволжский регион. Физико-математические науки .— 2009 .— №3 .— С. 133-137 .— URL: https://rucont.ru/efd/269834 (дата обращения: 20.04.2024)

Предпросмотр (выдержки из произведения)

С. В. Булярский, М. С. Ермаков ВЛИЯНИЕ ОБЛУЧЕНИЯ ГАММА-КВАНТАМИ НА СВОЙСТВА p-n-ПЕРЕХОДОВ НА ОСНОВЕ GaAs Аннотация. <...> При облучении образцов на основе GaAs гамма-квантами с энергией 1,25 МэВ было выявлено, что в образцах с дозой 0,3 Мрад, происходит уменьшение количества дефектов. <...> Для анализа экспериментальных данных применялась такая физическая величина, как приведенная скорость рекомбинации, которая обратна к времени жизни носителей заряда. <...> Irradiation of samples on the basis of GaAs scale in quanta with energy 1,25 MeV, were considered. <...> It has been revealed reduction of quantity of defects in samples with an irradiation dose 0,3 Mrad. <...> Для прогнозирования работы полупроводниковых приборов в условиях повышенной радиации необходимо исследовать изменение их свойств под действием излучений [1, 2]. <...> Наиболее важным представляется определение электрически активных дефектов, образовавшихся под действием ионизирующих излучений, а также выяснение их роли в изменении электрических свойств приборов. <...> Излучение приводит к модификации свойств полупроводниковых материалов, открывая новые возможности для их применения в электронике [3]. <...> Настоящая работа посвящена исследованию процессов, происходящих в диодах на основе арсенида галлия, до и после облучения их гаммаизлучением c энергией 1,25 МэВ. <...> Для исследования использовались светодиоды, излучающие свет в инфракрасном диапазоне, с длиной волны 940 нм. <...> До и после облучения измерялись вольт-амперные, вольт-емкостные характеристики приборов, а также проводилось исследование их термостимулированной емкости. <...> Методики измерения и обработки результатов подробно описаны в работах [1, 2]. <...> Для проведения анализа вольт-амперных характеристик (ВАХ) использовалась новая физическая величинаприведенная скорость рекомбинации Rпр , которая является обратной времени жизни, определяется как  qU   m exp <...> Поволжский регион уровня; ni – концентрация собственных носителей заряда; n1m – концентрация носителей заряда для m-го уровня; Ntm – концентрация глубокого уровня <...>