О. А. Голованов, В. Я. Савицкий, А. Д. Пимкин
ИССЛЕДОВАНИЕ КОЭФФИЦИЕНТА ПРОПУСКАНИЯ
ОПТИЧЕСКИХ ФИЛЬТРОВ НА ОСНОВЕ
МНОГОСЛОЙНЫХ ДИЭЛЕКТРИЧЕСКИХ ПОКРЫТИЙ
И ФОТОННЫХ КРИСТАЛЛОВ
Аннотация. <...> Предложены трехмерные электродинамические вероятностные
модели оптических фильтров на основе многослойных диэлектрических покрытий и на основе фотонных кристаллов. <...> Проведено сравнение результатов
расчета спектральной зависимости коэффициента пропускания двенадцатислойного отрезающего светофильтра α -Si/SiO2 с экспериментальными данными. <...> Исследовано влияние дефектов структуры упаковок наносфер на характеристики оптического фильтра. <...> Установлены предельные значения погрешностей изготовления наноэлементов: высот неровностей слоев диэлектрических покрытий и диаметров наносфер двуокиси кремния. <...> Ключевые слова: электродинамические вероятностные модели, оптические
фильтры, многослойные диэлектрические покрытия, наносферы. <...> Введение
Многослойные диэлектрические покрытия применяют для получения
высоких коэффициентов отражения (зеркальные покрытия), для увеличения
пропускания и контрастности (просветляющие покрытия), для спектрального
и энергетического разделения и сложения оптических сигналов и их хроматической коррекции (узко- и широкополосные отрезающие фильтры), для
изменения поляризации излучения (интерференционные поляризаторы). <...> В настоящее время математическое моделирование многослойных диэлектрических покрытий проводится на основе метода лучевой теории. <...> Численные исследования физических явлений и эффектов в многослойных диэлектрических покрытиях требуют развития новых подходов к математическому
моделированию, учитывающему рассеяние света на неоднородностях толщин
покрытий. <...> Анализ отечественной и зарубежной научной литературы
показывает, что к перспективным структурам класса 3D-фотонных кристаллов относятся опаловые матрицы из кубических упаковок наносфер двуокиси
160
№ <...>