Национальный цифровой ресурс Руконт - межотраслевая электронная библиотека (ЭБС) на базе технологии Контекстум (всего произведений: 634620)
Контекстум
.

Сканирующая туннельная микроскопия (90,00 руб.)

0   0
АвторыКривелевич С. А., Насонова М. О., Яросл. гос. ун-т им. П. Г. Демидова
ИздательствоЯрГУ
Страниц40
ID238210
АннотацияПредназначены для студентов, обучающихся по направлению 210100.62 Электроника и наноэлектроника (дисциплина «Физические методы диагностики наноструктур», цикл БЗ), очной формы обучения.
УДК621.38(072)
ББК22.338я73
Сканирующая туннельная микроскопия : метод. указания по выполнению лаб. работ / С. А. Кривелевич, М. О. Насонова; Яросл. гос. ун-т им. П. Г. Демидова .— Ярославль : ЯрГУ, 2012 .— 40 с. : ил. — URL: https://rucont.ru/efd/238210 (дата обращения: 19.04.2024)

Предпросмотр (выдержки из произведения)

П. Г. Демидова Кафедра нанотехнологий в электронике Центр коллективного пользования «Диагностика микро- и наноструктур» СКАНИРУЮЩАЯ ТУННЕЛЬНАЯ МИКРОСКОПИЯ Методические указания по выполнению лабораторных работ Рекомендовано Научно-методическим советом университета для студентов, обучающихся по направлению Электроника и наноэлектроника Ярославль ЯрГУ 2012 УДК 621.38(072) ББК П03я73 C 42 Рекомендовано Редакционно-издательским советом университета в качестве учебного издания. <...> План 2012 года Рецензент кафедра нанотехнологий в электронике ЯрГУ Составители: С. А. Кривелевич, М. О. Насонова Сканирующая туннельная микроскопия: методиC 42 ческие указания / сост. <...> Предназначены для студентов, обучающихся по направлению 210100.62 Электроника и наноэлектроника (дисциплина «Физические методы диагностики наноструктур», цикл Б3), очной формы обучения. <...> УДК 621.38(072) ББК П03я73 © ЯрГУ, 2012 2 Сканирующая зондовая микроскопия Принципы работы сканирующих зондовых микроскопов Сканирующая туннельная микроскопия – это один из методов сканирующей зондовой микроскопии (СЗМ). <...> Этим методом можно получать трехмерное изображение поверхности с разрешением вплоть до долей ангстрема. <...> В сканирующих зондовых микроскопах исследование микрорельефа поверхности и ее локальных свойств проводится с помощью специальным образом приготовленных зондов в виде игл. <...> Характерное расстояние между зондом и поверхностью образцов в зондовых микроскопах по порядку величин составляет 0,1–10 нм. <...> В основе работы зондовых микроскопов лежат различные типы взаимодействия зонда с поверхностью. <...> Так, работа туннельного микроскопа основана на явлении протекания туннельного тока между металлической иглой и проводящим образцом; различные типы силового взаимодействия лежат в основе работы атомно-силового, магнитно-силового и электросилового микроскопов. <...> Если существует достаточно резкая и взаимно однозначная зависимость параметра Р от расстояния зонд <...>
Сканирующая_туннельная_микроскопия_методические_указания.pdf
Министерство образования и науки Российской Федерации Ярославский государственный университет им. П. Г. Демидова Кафедра нанотехнологий в электронике Центр коллективного пользования «Диагностика микро- и наноструктур» СКАНИРУЮЩАЯ ТУННЕЛЬНАЯ МИКРОСКОПИЯ Методические указания по выполнению лабораторных работ Рекомендовано Научно-методическим советом университета для студентов, обучающихся по направлению Электроника и наноэлектроника Ярославль ЯрГУ 2012
Стр.1
УДК 621.38(072) ББК П03я73 C 42 Рекомендовано Редакционно-издательским советом университета в качестве учебного издания. План 2012 года Рецензент кафедра нанотехнологий в электронике ЯрГУ Составители: С. А. Кривелевич, М. О. Насонова Сканирующая туннельная микроскопия: методиC 42 ческие указания / сост.: С. А. Кривелевич, М. О. Насонова; Яросл. гос. ун-т им. П. Г. Демидова. – Ярославль : ЯрГУ, 2012. – 40 с. Предназначены для студентов, обучающихся по направлению 210100.62 Электроника и наноэлектроника (дисциплина «Физические методы диагностики наноструктур», цикл Б3), очной формы обучения. УДК 621.38(072) ББК П03я73 © ЯрГУ, 2012 2
Стр.2
5. Эдельман, В. С. Развитие сканирующей туннельной и силовой микроскопии / В. С. Эдельман // Приборы и техника эксперимента. – 1991. – № 1. – С. 24–42. 6. Быков, В. А. Сканирующая зондовая микроскопия для науки и промышленности / В. А. Быков, М. И. Лазарев, С. А. Саунин // Электроника: наука, технология, бизнес. – 1997. –№ 5. – С. 7– 14. 7. Володин, А. П. Новое в сканирующей микроскопии. / А. П. Володин // Приборы и техника эксперимента. – 1998. – № 6. – С. 3–42. 8. Неволин, В. К. Основы туннельно-зондовой нанотехнологии: учеб. пособие / В. К. Неволин. – М.: МГИЭТ (ТУ), 1996. – 91 с. 9. Рыков, С. А. Сканирующая зондовая микроскопия полупроводниковых материалов и наноструктур / С. А. Рыков. – СПб.: Наука, 2001. – 53 с. 10. Бахтизин, Р. З. Физические основы сканирующей зондовой микроскопии / Р. З. Бахтизин, Р. Р. Галлямов. – Уфа: БашГУ, 2003. – 82 с. Оглавление Сканирующая зондовая микроскопия .............................................. 3 Принципы работы сканирующих зондовых микроскопов .......... 3 Формирование и обработка СЗМ изображений ............................ 5 Вычитание постоянной составляющей ......................................... 7 Вычитание постоянного наклона ................................................... 7 Устранение искажений, связанных с неидеальностью сканера .. 8 Фильтрация СЗМ изображений ...................................................... 9 Медианная фильтрация ................................................................. 10 Усреднение по строкам ................................................................. 10 Фурье–фильтрация СЗМ изображений ........................................ 12 Физические основы работы туннельных микроскопов ................ 13 Одномерная модель протекания туннельного тока .................... 14 Многомерные модели протекания туннельного тока. Получение СТМ изображения ......................................................................... 16 Режимы постоянного тока и постоянной высоты ...................... 18 Туннельная спектроскопия ........................................................... 19 V-модуляция .................................................................................. 21 38
Стр.38
Z-Модуляция .................................................................................. 21 Методики изготовления СТМ зондов .......................................... 22 Конструкция микроскопа СММ-2000 ............................................ 23 Конструкция головки микроскопа ............................................... 23 Программное обеспечение микроскопа ...................................... 26 Методические указания и порядок выполнения работы .............. 27 Подготовка к сканированию ......................................................... 27 Знакомство и работа с панелью управления микроскопа ......... 31 Начало сканирования .................................................................... 32 Снятие вольтамперной характеристики (ВАХ) туннельного промежутка .................................................................................... 35 Задание ........................................................................................... 36 Контрольные вопросы ................................................................... 37 Литература ........................................................................................ 37 39
Стр.39