МГТУ им. Н.Э. Баумана. Приборостроение и оптика. 2025.
← назад

Свободный доступ

Ограниченный доступ
Автор: Малышев К. В.
Изд-во МГТУ им. Н.Э. Баумана: М.
В данные методические указания включены лабораторные работы, посвященные экспериментальным исследованиям с помощью сканирующего туннельного микроскопа (СТМ) характеристик наноматериалов, перспективных для радиоэлектронных средств. Во второй части изучается измерение электрических характеристик наноматериалов с помощью СТМ.
Предпросмотр: Наноматериалы для радиоэлектронных средств. – Ч. 2.pdf (0,1 Мб)
Автор: Малышев К. В.
Изд-во МГТУ им. Н.Э. Баумана: М.
В данные методические указания включены лабораторные работы, посвященные экспериментальным исследованиям с помощью сканирующего туннельного микроскопа (СТМ) характеристик наноматериалов, перспективных для радиоэлектронных средств. В первой части изучается подготовка СТМ к модификации (диагностике) наноматериалов с помощью СТМ.
Предпросмотр: Наноматериалы для радиоэлектронных средств.pdf (0,1 Мб)
Изд-во МГТУ им. Н.Э. Баумана: М.
Описаны физические явления, используемые в работе сканирующего
туннельного микроскопа и атомного силового микроскопа. Рассмотрены физико-химические законы наиболее разработанных зондовых нанотехнологий.
Предпросмотр: Нанотехнологии и микромеханика.pdf (0,2 Мб)