Приборостроение. Измерительная техника. Весы

В учебном пособии рассматривается работа в программе nanoCAD Механика, созданной на базе САПР-платформы nanoCAD российской компанией «Нанософт». За основу взяты две предыдущие работы автора «nanoCAD PLUS 10. Адаптация к учебному процессу» (М.: ДМК Пресс, 2019) и «nanoCAD МЕХАНИКА 9.0. Инженерная 2D- и 3D-графика» (М.: ДМК Пресс, 2019), содержание которых систематизировано, переработано и дополнено рядом новых необходимых сведений, включая вопросы автоматизированного проектирования крепежных соединений деталей, фланцевых соединений и валов на основе специализированных инструментов и модулей nanoCAD Механика. Приведены многочисленные примеры поэтапного проектирования учебных и натурных деталей и изделий.

Рассмотрены вопросы дефектоскопии в литейном производстве. Подчеркнута значимость неразрушающего контроля на всех стадиях технологического процесса и необходимость использования современных информационно-диагностических средств. Представлена классификация основных групп и видов дефектов литья. Выделены важнейшие операции процесса контроля. Определена физическая задача визуально-оптической дефектоскопии. Представлена структура формирования первичной информации. Рассмотрены проблемы формирования оптического контраста. Проанализированы преимущества и недостатки основных методов оптических измерений. Показаны преимущества 3D-метода для измерения линейных размеров дефектов

Учебное пособие содержит лабораторный практикум, предназначенный для изучения аналоговых элементов информационно-измерительной техники. Практикум разработан с использованием технологии виртуальных приборов. В качестве платформы используются персональный компьютер и станция NI ELVIS II, укомплектованная лабораторной платой, на которой собраны исследуемые аналоговые схемы. Оригинальное прикладное программное обеспечение практикума разработано в среде LabVIEW.

Московский государственный технологический университет «СТАНКИН», Москва, Россия, e-mail: bnmarkov@rambler.ru, avshul@yandex.ru Рассмотрено применение морфологической фильтрации профиля и 3D-рельефа поверхностных неровностей в задачах исследования влияния морфологических особенностей поверхности на её функциональные свойства. Предложены простые и эффективные алгоритмы построения огибающих профиля и рельефа для морфологического анализа поверхности. Алгоритмы могут быть реализованы в составе программно-математического обеспечения средств измерений шероховатости.

Рассмотрены проблемы проектирования прецизионных измерительных систем для контроля параметров изоляции высоковольтного оборудования. Предложен метод измерения тангенса угла диэлектрических потерь изоляции, основанный на восстановлении векторной диаграммы в измерительной схеме, состоящей из контролируемого оборудования и эталонного конденсатора. Показано, что для данной задачи пригодна вейвлет-функция Морле, линейная свертка входных сигналов которой может быть реализована в цифровом виде. Приведен пример реализации цифрового измерителя тангенса угла диэлектрических потерь на базе ПЛИС с применением специально разработанных IP-ядер

В статье приводится методика анализа рентгеновских изображений интегральных микросхем с целью определения координат расположения контактных площадок на кристаллах. Методика основана на математическом аппарате обработки изображений, реализованном через библиотеку функций компьютерного зрения OpenCV с открытым исходным кодом на языке программирования C++

Кн. 1. Используемые программы: Adobe Acrobat. Труды сотрудников СГАУ (электрон. версия)