Плахотная ВЛИЯНИЕ РЕЖИМОВ НАПЛАВКИ НА СТРУКТУРУ И СВОЙСТВА ПОКРЫТИЙ СИСТЕМЫ ТИТАН-АЛЮМИНИЙ Представлены результаты исследований процессов аргонодуговой наплавки сплавов системы титан-алюминий. <...> Установлено влияние режимов на состав структуру и свойства наплавленных сплавов. <...> Results of investigation of argon-arc titanium-aluminum alloy surfacing have been presented. <...> Influence of surfacing conditions on pad weld chemistry structure and properties has been established. <...> Интерметаллидные сплавы титан-алюминий находят все более широкое применение в промышленности, что связано с их уникальным комплексом физико-механических и эксплуатационных свойств. <...> Алюминиды титана имеют более высокую жаростойкость и жаропрочность, чем промышленные титановые сплавы, их плотность в 2,5 раза ниже плотности жаропрочных никелевых сплавов. <...> Наибольший практический интерес представляют алюминиды Ti3Al и TiAl [1]. <...> Как и большинству интерметаллидам алюминидам титана свойственна высокая хрупкость, особенно при комнатной температуре, что затрудняет их практическое применение в качестве конструкционных материалов [1]. <...> Однако, для формирования поверхностных слоев с повышенными эксплуатационными свойствами алюминиды титана могут успешно применяться [2]. <...> Интерметаллидные слои на поверхности титана было предложено формировать аргонодуговой наплавкой неплавящимся электродом с подачей алюминиевой присадочной проволоки в жидкометаллической ванну [2]. <...> Для наплавки использовали образцы из титана марки ВТ1-0 размером 120Ч120Ч10 мм и присадочную проволоку СвА5 диаметром 1 мм. <...> Присадочную проволоку вводили в хвостовую часть жидкометаллической ванны, что обеспечивало стабильное формирование наплавленного валика и уменьшало потери алюминия на угар и разбрызгивание [3]. <...> Скорость подачи присадочной проволоки изменялась в пределах Vп/пп Al = 1–6 м/мин при скоростях наплавки Vн = 0,1– 0,2 м/мин. <...> Исследование химического состава наплавленного металла проводились методами растровой электронной микроскопии на комплексе сканирующего <...>