УДК 621.3.049.77:681.5 АВТОМАТИЗИРОВАННАЯ ИЗМЕРИТЕЛЬНАЯ СИСТЕМА ДЛЯ ИССЛЕДОВАНИЯ ХАРАКТЕРИСТИК ИНТЕГРАЛЬНЫХ МИКРОСХЕМ И. Я. <...> Орлов, В. С. Ефимов, А. Н. Лукичев Рассмотрена автоматизированная измерительная система анализа динамических параметров изделий РЭА на примере исследования цифровых и аналоговых интегральных микросхем. <...> Система показала высокую эффективность при проведении научно-исследовательских работ по созданию приборов и устройств с требуемыми характеристиками. <...> Высокая степень интеграции современных микроэлектронных устройств, микроузлов, а также гибридных многокристальных модулей с применением сверхбольших интегральных микросхем (СБИС) на гетероструктурах ведет к необходимости сбора и обработки больших массивов информации. <...> Появление на рынке программно-управляемых измерительных приборов и уровень развития программного обеспечения привели к возможности создания автоматизированной измерительной системы (АИС). <...> АИС позволяет получать результаты измерений в реальном масштабе времени, т. е. просматривать всю динамику процесса измерения, а также проводить исследования характеристик с любой необходимой дискретностью. <...> В работах [1—4] сформулированы основные принципы построения АИС, составлена структурная схема и приведен пример алгоритма контроля конкретного микроузла в качестве частного применения АИС. <...> В настоящее время измерительная система контроля и исследований характеристик радиоэлектронной аппаратуры (РЭА) дополнена осциллографом С8-37, высокочастотным генератором сигналов Г4-218 и блоком управляемых нагрузок, что существенно расширило возможности системы при анализе динамических параметров изделий РЭА. <...> 1) представляет собой управляющий персональный компьютер (ПК) IBM PC, банк измерительных приборов, необходимых для контроля конкретного изделия РЭА, камеру тепла—холода ESPEC SU-661, блок управляемых нагрузок и коммутатор (стенд автоматизированного контроля), предназначенный <...>